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Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)

隨著Mini-LED晶圓臺測試系統(tǒng)和Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)（簡稱M-LED）尺?的?幅縮?,，光通量的下降,，檢測難度在不斷上升,，檢測數(shù)量也在?幅增加,，對其綜合光電性能的檢測也提出了更多更新的要求。為此,，Aunion Tech推出了全新開發(fā)的?主品牌晶圓級I-V-L-S綜合光電性能測試臺系統(tǒng),。 Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)可以?持蕞?10um尺?的Micro-LED的點(diǎn)亮測試；可以?持正裝或倒裝M-LED的測試,；不僅能對單 顆M-LED進(jìn)?I-V-L（電流-電壓-亮度）曲線的測試,，還能獲得?度、主波?DWL和光譜信息,；不僅能觀察單顆LED?身的亮度,、?度分布，還能實現(xiàn)對陣列M-LED的亮度,、?度,、波?均勻性分布進(jìn)?測量和分析。 Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)實現(xiàn)了對M-LED的綜合光電性能測試,，是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā),、實驗的檢測設(shè)備,。

M-LED的I-V-L-S綜合光電性能測試臺

• 顯微成像+探針點(diǎn)亮模塊：蕞??持10um尺?Micro-LED產(chǎn)品

• 超?量程的綜合光電性能測試

 - I-V-L-S測試集成電流,、電壓、亮度,、?度,、主波?、光譜等多種信息

 - 可?持0.0001-1010 cd/m2 超?量程,，完整測試M-LED的特性

 - ?持100pA到1A的超?量程測試

• 精密運(yùn)?控制臺

• 隔振光學(xué)平臺

Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格：

關(guān)于昊量光電：

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器,、光學(xué)測量設(shè)備,、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工,、光通訊,、生物醫(yī)療、科學(xué)研究,、國防,、量子光學(xué)、生物顯微,、物聯(lián)傳感,、激光制造等,；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn),，硬件開發(fā),，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù),。