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當前位置：鄭州偉創(chuàng)檢測設備有限公司>>實驗室常用設備>>實驗天平>> METTLER梅特勒分析天平XP2U
| 參數名稱 | 極限值 | 參數名稱 | 典型值 |
| 稱量值 | 2.1 g | 典型重復性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr |
| 可讀性 | 1μg | 典型微分非線性（sd） | √8x(10-14) · g · R_nt |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.00025 mg | 典型微分四角誤差（sd） | 8 x (10–7) . R_nt |
| - 低加載（加載處） | 0.0002 mg (0.2 g) | 典型靈敏度偏移（sd）2) | 3x(10-6)· R_nt |
| 線性誤差 | 0.001mg | 典型最小稱量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr |
| 四角誤差（加載處）1) | 0.0025 mg (1 g) | 典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr |
| 靈敏度漂移 | 1.5 x 10-5 | 典型穩(wěn)定時間 | < 10 s |
| 靈敏度溫度漂移 2) | 0.0001 %/°C | 1) 根據OIML R76 2) 在10到30°C的溫度范圍內 3) 次安裝,，使用proFACT校準,，靈敏度穩(wěn)定性 4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年 * 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置,，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器,。 | |
| 靈敏度穩(wěn)定性 3) | 0.0001 %/a | ||
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