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詳細(xì)介紹
北師大單通道/ 雙通道紫外輻照計(jì)UV-A紫外輻照計(jì)適用于光化學(xué),、高分子材料老化,、探傷、紫外光源,、植物栽培,、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作
用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片,，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定,，適用性強(qiáng),。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化,、探傷,、紫外光源,、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作,。
北師大單通道/ 雙通道紫外輻照計(jì)特點(diǎn)
光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
數(shù)字液晶顯示,，帶背光
手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
| 項(xiàng)目 | 參數(shù) | |
| 波長(zhǎng)范圍λ1,，峰值波長(zhǎng)λp | （320～400）nm,，λP＝365nm | |
| 波長(zhǎng)范圍λ2，峰值波長(zhǎng)λp | （375～475）nm,，λP＝420nm | |
| 輻照度測(cè)量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% | |
| 相對(duì)示值誤差 | ±8％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)） | |
| 角度響應(yīng)特性 | ±5% （α≤10°） | |
| 線性誤差 | ±1% | |
| 換檔誤差 | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機(jī)30min后） | |
| 疲勞特性 | 衰減量<2% | |
| 零值誤差 | 滿量程的±1% | |
| 響應(yīng)時(shí)間 | <1秒 | |
| 使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃,；濕度＜85％RH | |
| 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） | |
| 整機(jī)功耗 | ＜0.1VA |
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