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價(jià)格區(qū)間	面議	儀器種類	便攜式拉曼光譜
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

HORIBA Scientific激光拉曼光譜儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行耦合，構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái),。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器,。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹：

AFM-拉曼耦聯(lián)配置
HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進(jìn)行耦合，構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái),。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器,。
所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對(duì)掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對(duì)熱點(diǎn)進(jìn)行成像，因而該配置能夠準(zhǔn)確,、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上,。
高通量的光信號(hào)收集和檢測(cè)硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜。

將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

我們所提供的解決方案使用直接光路耦合,，對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡（AFM）,、近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)（SNOM,NSOM）,、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學(xué)光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺(tái)多功能的儀器中，以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）或共點(diǎn)測(cè)量,。

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層,、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué),、熱能,、電磁場(chǎng)和近場(chǎng)光學(xué)特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息,。
同步測(cè)量的平臺(tái),，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結(jié)合高性能和易用性,，HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠,、全功能的解決方案
針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的,，同時(shí)有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持,，您可以自信地使用這一技術(shù)。
一個(gè)工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

快速找到納米對(duì)象
由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性，拉曼峰信號(hào)較強(qiáng),，因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位,。在找到樣品后，我們可以對(duì)感興趣的位置進(jìn)行形貌,、機(jī)械,、電學(xué)和熱能分析。

交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù)
拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性,，例如前面研究的石墨烯,，AFM形貌的對(duì)比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息,，此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息,，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息
在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí),，有時(shí)只獲得物理性質(zhì)是不夠的,。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息，這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的,。