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布魯克透射電鏡專(zhuān)用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95 返回列表頁(yè)

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產(chǎn)品型號(hào)

品牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2024-05-22 18:36:44瀏覽次數(shù)：305次

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產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器種類(lèi)	納米壓痕/劃痕儀（一體化））	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

產(chǎn)地類(lèi)別

進(jìn)口

價(jià)格區(qū)間

面議

儀器種類(lèi)

納米壓痕/劃痕儀（一體化））

應(yīng)用領(lǐng)域

綜合

布魯克透射電鏡專(zhuān)用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95

布魯克Hysitron PI 95是TEM專(zhuān)用的多用途,、高靈敏度熱學(xué),、電學(xué)和力學(xué)的測(cè)試系統(tǒng),，在TEM上檢測(cè)時(shí)，直接觀察檢測(cè)過(guò)程,，使用側(cè)面進(jìn)樣支架,，不僅可以實(shí)現(xiàn)納米尺度材料的成像觀察，還可以同時(shí)進(jìn)行加熱和通電測(cè)試,，并同步得到材料的力學(xué)數(shù)據(jù),，通過(guò)視頻接口可以將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷位移曲線）與相應(yīng)TEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步。

該系統(tǒng)為方便研究者瞬間得到特定參數(shù),，比如化學(xué)復(fù)合物的種類(lèi),，或?qū)Σ牧弦呀?jīng)造成的影響，除成像外,，選擇區(qū)域衍射可以檢測(cè)樣品的取向,，原位力學(xué)檢測(cè)可以實(shí)時(shí)觀測(cè)和驗(yàn)證。

適用JEOL,、FEI,、Hitachi、Zeiss（不適用于UHR極靴）的PI 95可在納米尺度既可以輕松完成材料的電學(xué)測(cè)試,，也可以同時(shí)進(jìn)行拉伸,、壓縮、彎曲等力學(xué)實(shí)驗(yàn)。后續(xù)可升級(jí)模塊有高溫臺(tái),、原位力電性能測(cè)試,、納米劃痕等。

布魯克電鏡專(zhuān)用原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)PI 88

布魯克Hysitron PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng),，其最大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化,，后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。

該系統(tǒng)通過(guò)視頻接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷-位移曲線）與相應(yīng)SEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步,，允許研究者在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中極其精確地定位壓頭并對(duì)變形過(guò)程成像,。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法，只能通過(guò)光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化,，因無(wú)法監(jiān)測(cè)中間過(guò)程,，而最終對(duì)載荷-位移曲線上的一些突變無(wú)法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問(wèn)題。

PI 88安裝于SEM,，可以精確施加載荷,，檢測(cè)位移，在電鏡下進(jìn)行壓痕,、壓縮,、彎曲、劃痕,、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測(cè)試,；此外，通過(guò)升級(jí)電學(xué),、加熱模塊,，還可研究材料在力、電,、熱等多場(chǎng)耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系,。

布魯克電鏡專(zhuān)用原位納米力學(xué)系統(tǒng) PI 85L

布魯克Hysitron PI 85L是SEM專(zhuān)用的多用途、高靈敏度熱學(xué),、電學(xué)和力學(xué)的測(cè)試系統(tǒng),，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測(cè)整個(gè)材料動(dòng)態(tài)變化的過(guò)程,。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過(guò)光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化,，中間過(guò)程無(wú)法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無(wú)法解釋?zhuān)踔羻螐那€分析會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的解釋,。

PI 85L安裝于電鏡,，可以精確施加載荷，檢測(cè)位移,，在電鏡下做壓痕,、拉伸,、彎曲、壓縮,、加熱,、電學(xué)和劃痕測(cè)試，可以借助電鏡的高分辨率,，觀測(cè)并記錄整個(gè)材料測(cè)試過(guò)程,，觀測(cè)材料在力下發(fā)生的動(dòng)態(tài)變化，如金屬蠕變,、相變,、斷裂起始等。

PI 85L采用Hysitron技術(shù)三板電容傳感器,，具備載荷和位移同時(shí)監(jiān)測(cè)和驅(qū)動(dòng)的功能,。具備業(yè)界的精度，重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn),。PI 85L擁有多種特色測(cè)試功能模塊可供選擇,，如動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試、MEMS加熱,、拉伸測(cè)試,、電學(xué)測(cè)試、納米劃痕等功能模塊,。

布魯克高精度納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)TI Premier

定量的納米力學(xué)

布魯克專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測(cè)試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了業(yè)界的,、定量納米力學(xué)表征技術(shù)。以被廣泛驗(yàn)證的Hystrion 技術(shù)為基礎(chǔ),，TI Premier 提供了納米力學(xué)和摩擦學(xué)測(cè)試的工具包,?？梢圆捎肨I Premier 的多種基本配置完成常規(guī)的測(cè)量到高ji的研究,，同時(shí)多樣化的升級(jí)選項(xiàng)可以滿(mǎn)足您未來(lái)表征的潛在多樣性的需求。

原位掃描探針顯微鏡成像

原位形貌成像,，大限度地測(cè)試定位準(zhǔn)確性

納米壓痕

定量模量,、硬度、蠕變,、斷裂韌性和應(yīng)力松弛表征

納米劃痕

納米劃痕,、抗劃傷性、薄膜附著力和摩擦系數(shù)測(cè)試

納米磨損

在良好控制的摩擦學(xué)條件下,，量化磨損量和磨損率

布魯克Hysitron TI Premier高精度納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是布魯克公司研制的自動(dòng)化,、高通量測(cè)試儀器，通過(guò)納米級(jí)位成像,，可實(shí)現(xiàn)壓痕,、劃痕和磨損過(guò)程的納米尺度原位可視化表征,。Hysitron（海思創(chuàng)）應(yīng)用其工藝的ZG技術(shù)“三板電容傳導(dǎo)"，從源頭上保證了儀器穩(wěn)定性和靈敏度,。使用Hysitron（海思創(chuàng)）納米力學(xué)材料檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)探針可以獲得材料微區(qū)的硬度,、彈性模量、摩擦系數(shù),、磨損率,、斷裂剛度、失效,、蠕變,、粘附力（結(jié)合力）等力學(xué)數(shù)據(jù)。后續(xù)可選擇升級(jí)模塊有高溫臺(tái),、電學(xué)性能測(cè)試,、濕度控制模塊、冷臺(tái),、與拉曼連用等,。不僅在微納米水平上開(kāi)展力學(xué)行為特性的研究，還可以進(jìn)行納米尺寸上的機(jī)械加工,。