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品牌TSI/美國(guó)

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2023-06-07 16:56:20瀏覽次數(shù)：319次

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3938E57 1nm 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS™)

商品編號(hào): 3938E57

使用第二代1-nm粒徑譜儀將您的測(cè)量能力升級(jí)至檢測(cè)極限。30多年來(lái)，TSI的SMPS™粒徑譜儀被廣泛作為測(cè)量亞微米和低納米范圍內(nèi)氣溶膠粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn),。SMPS系統(tǒng)包括3757型納米增強(qiáng)CPC以及3086型差分靜電遷移分析儀(DMA)的配合使用，可以以高分辨率和高速度測(cè)量粒徑和數(shù)量濃度,，并監(jiān)測(cè)小于1nm的工程和天然氣溶膠粒子的反應(yīng)動(dòng)力學(xué)和新粒子生成,。

產(chǎn)品詳情

1納米SMPS系統(tǒng)結(jié)合了TSI在粒子分級(jí)和計(jì)數(shù)方面的傳統(tǒng)優(yōu)勢(shì)，并采用了能夠測(cè)量小于1納米粒子的新技術(shù),。優(yōu)化后的3086型差分靜電遷移分析儀能夠進(jìn)一步降低了這些微小粒子的擴(kuò)散損失,。3757型納米增強(qiáng)儀介于DMA和標(biāo)準(zhǔn)CPC之間,，采用二甘醇對(duì)1納米粒子預(yù)生長(zhǎng)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)CPC檢測(cè),。新的納米增強(qiáng)儀設(shè)計(jì)加強(qiáng)了CPC與納米增強(qiáng)儀的集成性,，使系統(tǒng)的設(shè)置和使用更加容易。

研究人員通過(guò)使用這些儀器,，可以將粒子研究推向令人興奮的新領(lǐng)域,。關(guān)鍵應(yīng)用包括：

大氣研究 -監(jiān)測(cè)新的粒子形成和動(dòng)力學(xué)、云凝聚,，并縮小質(zhì)譜儀與常規(guī)粒子粒徑分布測(cè)量之間的差距,。非常適合高污染城市中的亞3nm粒子和粒子源研究以及健康影響因素研究

材料科學(xué) - 系統(tǒng)可以可靠的近實(shí)時(shí)反饋監(jiān)測(cè)和表征亞3nm粒子，非常適合基于氣溶膠的工程納米粒子合成,、納米粒子功能化,、納米分析化學(xué)、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)控制和催化劑合成,。

1nm SMPS不僅僅是能觀察1nm以上成核的檢測(cè)器,，還是全面的粒子光譜儀，能夠以的分辨率顯示了這些事件中的粒徑分布情況,。

組件的模塊化非常便于用戶(hù)根據(jù)測(cè)量需求定制系統(tǒng)：節(jié)省您的時(shí)間和金錢(qián),。如果您已經(jīng)擁有一套配備了3750 型CPC的3938系列SMPS系統(tǒng)，您只需再增加一臺(tái)1NM DMA差分靜電遷移分析儀和納米增強(qiáng)儀,，無(wú)需調(diào)整您的分級(jí)器和高級(jí)中和器,，且您將免費(fèi)更新到最新版本的AIM軟件