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當前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>X射線儀器>> M4 TORNADO PLUS微區(qū)X射線熒光成像光譜儀PLUS
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號M4 TORNADO PLUS
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2023-05-18 11:00:56瀏覽次數(shù)：416次
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,建材/家具,電子/電池,電氣 |
M4 TORNADOPLUS - 微區(qū)X射線熒光成像的新紀元
M4 TORNADO微區(qū)X射線熒光成像光譜儀PLUS能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,。
作為微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產(chǎn)品,，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔徑管理系統(tǒng),，高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺,。
更輕,、更快,、更深
M4 TORNADOPLUS采用輕元素窗口的大面積硅漂移探測器（SDD）實現(xiàn)對輕元素碳的檢測，高通量脈沖采樣,，BRUKER孔徑管理系統(tǒng)（AMS）可以獲取大景深,，對表面不平整樣品分析具有優(yōu)勢。
輕元素檢測
M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質(zhì)元素碳的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,，具備兩個具有輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個優(yōu)化的Rh靶X射線光管,。
與普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀不同，M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內(nèi)元素靈敏度的前提下,，還可以檢測原子數(shù)小于11的元素（Z＜11）,，例如氟（F）、氧（O）,、氮（N）和碳（C）,。
隨著功能性的增強，M4 TORNADOPLUS應(yīng)用也正在開發(fā)和拓展中,，例如地質(zhì)學,、礦物學,、生物學、聚合物研究或半導(dǎo)體行業(yè)等方向,。
應(yīng)用實例-螢石和方解石的區(qū)分
螢石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以鈣為主要成分的礦物,。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟（F），氧（O）,，碳（C）,；由于普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z＜11(Na）的元素，無法區(qū)分這兩種礦物,，所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線,。
利用輕元素探測器，M4 TORNADOPLUS可以檢測氟（F）,、氧(O)和碳(C),，從而鑒別這兩種礦物。
圖：鑒別螢石與方解石
左：方解石（紅）和螢石（藍）的元素分布圖,；圖像尺寸：20×12mm2,；掃描分辨率：800×460pixels
右：螢石（藍）和方解石（紅）的輕質(zhì)元素光譜圖。
應(yīng)用實例-電路板
由于AMS的場深度深,，如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節(jié),。此外，由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,，光束能量依賴性變得不那么明顯,。
圖：具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖
左圖: 標準多導(dǎo)毛細管聚焦在電路板上，元件的高點失焦,，顯得模糊,。
右圖: AMS系統(tǒng)加載下圖像顯示高景深，組件聚焦在更大的景深范圍內(nèi),。
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