在磨料粒度測量中,，可用顯微鏡用顆粒投影的zui大寬度代表顆粒的大??；沉降法用沉降速度的大小來量度顆粒的大小,；庫爾特法（電阻法）用顆粒在電解液中引起的電阻變化來測量顆粒大?。患す饬６葍x則用散射（衍射）光斑的大小來量度顆粒的大小,。

幾種磨料微粉粒度測量儀器的優(yōu)缺點對比
1.光學顯微鏡
優(yōu)點：直觀,、可靠，同時還可觀察晶形,。
缺點：勞動強度大,，重復性差，受人為影響大,，不能給出詳細的粒度分布,。
2.美國式沉降管
優(yōu)點：能給出較詳細的粒度分布，表述方法更加科學,，能直接測量zui粗粒,，重復性較好。
缺點：測量時間長（>=30min）,，手工記錄和處理數(shù)據(jù),，繁瑣。由于所用樣品量大,，濃度高,，實際上已不能滿足Stokes公式的適用條件，故測量結(jié)果與光透沉降法所得結(jié)果相比偏粗,，分布偏窄,。
3.掃描式光電沉降儀
優(yōu)點：能實現(xiàn)自動測試，和普通光透沉降儀相比量程擴大了近7倍,。
缺點：測量時間偏長，操作較繁瑣,。
4.顆粒圖像處理儀
優(yōu)點：跟顯微鏡方法相比,，它避免了手動測量，認為影響大為減小,，因此重復性明顯提高,，還能給出詳細的粒度分布,。另外，它能按等面積法給出粒度分布,，這是顯微鏡法不可能做到的,。
缺點：取樣量少，測量過程還有少量人工干預,。測量時間較長（15-30min）,。
5.庫爾特（電阻法）計數(shù)器
優(yōu)點：測試速度快（約1min）；由于是逐個測量,，且所測顆粒數(shù)量較大,，所以測量精度高，分辨率高,。
缺點：單量程測量范圍窄（如2-40μm）,，小孔管容易堵塞。
6.激光粒度儀
優(yōu)點：測量速度快（<2min）,，單量程范圍大,，操作方便，重復性好,。
缺點：分辨率相對較低,。