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當(dāng)前位置:西安安泰測試科技有限公司>>技術(shù)文章>>頻譜儀不同設(shè)置讀數(shù)差異的原因是什么?
經(jīng)常有人在使用頻譜儀時遇到這樣的問題:在進行信號的頻譜分析測試時,,為什么不同的頻譜儀的設(shè)置狀態(tài),功率電平讀數(shù)不一樣,?
情況1 超寬SPAN頻譜測量
設(shè)置規(guī)則:
測試頻點間隔<RBW/2,,VBW自動,,參考電平稍大于信號電平;頻點間隔=SPAN/(測試點數(shù)-1),。
原理分析:
頻譜儀上每個測試值對應(yīng)一個測試頻段,,在測試點左右1/2頻點間隔的頻段內(nèi),進行掃描多次采樣,;
當(dāng)信號為CW或帶寬小于RBW的窄帶信號,,只有信號頻率處1個RBW內(nèi)對應(yīng)信號電平,其它采樣值都是噪聲電平,;依據(jù)所選擇曲線模式以及檢波器類型算法對這些采樣值進行計算之后,,顯示該頻點測試值;
曲線平均模式與SAMPLE和AVERAGE檢波器可以一起使用,,與其它類型檢波器不兼容,,因為曲線平均模式是算術(shù)平均,與PEAK和RMS等算法沖突,;
當(dāng)頻點間隔大于RBW時,,RBW以外的噪聲采樣值,除了峰值檢波器的最大值算法以外的其它檢波器或者曲線平均,,都會讓讀數(shù)小于信號電平,,頻點間隔減小會讓讀數(shù)變大;
當(dāng)信號帶寬大于RBW時,,電平讀數(shù)等于RBW帶寬內(nèi)部分信號功率,,讀數(shù)始終小于信號電平,頻點間隔增大會讓讀數(shù)進一步變小,。
當(dāng)頻譜儀掃描頻點間隔大于RBW時,,窄帶信號輸入,頻譜儀設(shè)置與結(jié)果現(xiàn)象總結(jié):
即時刷新的曲線模式+峰值檢波,,峰值標(biāo)記點讀數(shù)與信號電平一致,;
曲線最大保持模式+峰值檢波,峰值標(biāo)記點讀數(shù)與信號電平一致,;
曲線平均模式+峰值檢波,,峰值標(biāo)記點讀數(shù)小于信號電平;
即時刷新的曲線模式+峰值以外的其它檢波器,,峰值標(biāo)記點讀數(shù)小于信號電平,。
情況2 寬帶調(diào)制信號功率測量
準(zhǔn)確測量電平的設(shè)置規(guī)則:
RMS檢波器,,頻譜儀中心頻率設(shè)為被測信號中心頻率,,SPAN設(shè)為3至5倍信號帶寬,測量模式設(shè)為band power或者channel power,,模式中設(shè)置信號帶寬涵蓋真實信號帶寬,,RBW<SPAN/1000,,VBW>RBW,最終讀取band power或者channel power數(shù)值,,代表信號電平;
RMS與曲線平均模式不兼容,,要獲得穩(wěn)定的RMS頻譜曲線,需延長測量時間,。
不滿足設(shè)置規(guī)則要求時,,頻譜儀設(shè)置與結(jié)果現(xiàn)象總結(jié):
即時刷新的曲線模式+峰值檢波,power讀數(shù)大于信號電平,;
曲線最大保持模式+RMS檢波,,power讀數(shù)大于信號電平;
曲線平均模式+RMS檢波,,power讀數(shù)小于信號電平,;
VBW<RBW,RMS或AV檢波,,power讀數(shù)小于信號電平,。
情況3 寬帶噪聲功率密度測量
正確的設(shè)置規(guī)則:必須RMS或SAMPLE檢波器,RMS檢波器時VBW=3*RBW,,曲線不可平均,;SAMPLE檢波器時VBW=0.1*RBW,可以曲線平均,;標(biāo)記marker功能選擇noise,,讀取噪聲功率密度。
不滿足設(shè)置規(guī)則要求時,,讀數(shù)可能出現(xiàn)較大偏差,。
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