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BM薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖
  • BM薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

貨物所在地:北京北京市

地: 北京

更新時間:2024-11-20 15:39:06

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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備,,測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具,,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)器件的介電性能測量與分析,,可測試以下參數(shù)隨頻率(f),、電平(V),、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C),、電感(L)、電阻(R),、電抗(X),、阻抗(Z)、相位角(Ø),、電導(dǎo)(B),、導(dǎo)納(Y)、損耗(D),、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),,同時計算獲得反

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗測試儀tgd

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗測試儀tgd

關(guān)鍵詞:介電常數(shù)(ε),損耗測試儀tgd),,品質(zhì)因數(shù)(Q),,頻率(f)

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

    JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗測試儀tgd是目前針對PVDF薄膜材料,是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀,。是目前能夠處理的介電常數(shù)(ε)和介損(tgd)的圖譜,。GB/T1693-2007主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,。主要可以測量電容器,,互感器,變壓器,,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tgd)和電容量( Cx)以,,其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。電橋由橋體,、指另儀,、跟蹤器組成,本電橋特別適應(yīng)測量各類絕緣油和絕緣材料的介損(tgd)及介電常數(shù)(ε),。

 JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備,,測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)器件的介電性能測量與分析,,可測試以下參數(shù)隨頻率(f),、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C),、電感(L),、電阻(R),、電抗(X)、阻抗(Z),、相位角(?),、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y),、損耗(D),、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時計算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和損耗參數(shù),。

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

                          薄膜介電常數(shù)(ε)

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

                   薄膜介損(tgd)圖譜



三電極結(jié)構(gòu)設(shè)計:

微調(diào)千分尺:微調(diào)千分尺具備0.001mm的調(diào)節(jié)精度,,可精細(xì)化調(diào)節(jié)上下電極之間的距離。

平行板測試電極:下電極固定在底部支撐座,,上電極可由微調(diào)千分尺調(diào)節(jié)行程距離,。上電極帶有保護(hù)電極。

上電極片:上電極標(biāo)配有2mm球頭電極,、φ26.8mm圓片電極和φ38mm圓片電極,。可根據(jù)樣品大小隨時更換,。

鎖緊裝置:當(dāng)樣品放入上下電極之間后,,可調(diào)節(jié)此鎖緊裝置,固定上下電極的調(diào)節(jié)行程,。防止輕微移動引起的刻度偏差,。

嚴(yán)格按照ASTM   D150國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計,電極表面鍍金處理,,導(dǎo)電性能好,、抗氧化,使用壽命更長

一,、真正的三電極設(shè)計

介電夾具基于ASTM D150標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法,,采用三電極法設(shè)計。上電極+下電極+保護(hù)電極,,電極表面鍍金處理,,導(dǎo)電性能好、抗氧化,。為消除測試連接線阻抗及連接線之間相互耦合對測試的影響,,儀器與夾具電極連接采用4端對法。

得益于測試線纜和電極引線的良好屏蔽,,屏蔽層直達(dá)測試電,,因此獲得更高的校準(zhǔn)頻率。

2.校準(zhǔn)頻率最高可達(dá)100MHz

適配的阻抗分析儀更加豐富,,充分利用測試儀器的測試頻率范圍(20Hz-120MHz),,以滿足測試樣品對更高頻率的要求。

3.高精度調(diào)節(jié)行程

適配高精度微調(diào)千分尺,,可調(diào)精度為0.001mm,,

上電極可調(diào)行程為12mm,并帶有鎖緊裝置,,可有效鎖定當(dāng)前刻度位置,,確保測試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

標(biāo)配26.8/38mm尺寸電極片,,可滿足不同尺寸樣品測量,,樣品安裝方便、簡單

主要技術(shù)參數(shù):

1,、測試頻率:DC~100MHz

2,、樣品要求:雙面涂覆電極,保持平整,、光滑

3,、樣品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10mm

4,、電極圓片:無,。有效面積:樣品上下涂覆電極垂直重疊部分面積

5、誤差分析:存在邊緣電容,,樣品表面凹陷處被導(dǎo)電體填充

6,、測試接口:4SMA母頭

7、上電極:φ2mm球頭電極+φ26.8mm圓片電極+φ38mm圓片電極

8,、保護(hù)電極:上電極帶保護(hù)電極,,電極表面鍍金

9、上電極壓力調(diào)節(jié):12mm行程調(diào)節(jié),,用于上電極與樣品良好的電性能接觸

10,、帶電極樣品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10m

11,、設(shè)計標(biāo)準(zhǔn):ASTM D150D2149-97國際標(biāo)準(zhǔn),,GB/T1409-2006國家標(biāo)準(zhǔn)

12、電極結(jié)構(gòu):兩平行板電極+保護(hù)電極,,三電極結(jié)構(gòu)

13,、電極引線:同軸屏蔽線,消除電磁干擾對測試影響

14,、下電極:φ60mm鍍金圓片電極

15,、上電極行程調(diào)節(jié):12mm行程調(diào)節(jié),用于樣品安裝

16,、數(shù)據(jù)存儲:數(shù)據(jù)庫保存各類實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),,同時輸出TXT,、XLSBMP等格式文件,,對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)提供豐富的查詢與分析,,輸出圖形與數(shù)據(jù)。




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