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一   LYJS9000G雙變頻介損儀概   述

是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器,。儀器為一體化結(jié)構(gòu),，內(nèi)置介損測(cè)試電橋，可變頻調(diào)壓電源,，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器,。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試,。頻率可變?yōu)?0Hz,、47.5Hz52.5Hz、45Hz55Hz,、60Hz,、57.5Hz62.5Hz、55Hz65Hz,，采用數(shù)字陷波技術(shù),，避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題,。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合,。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測(cè)試絕緣油介質(zhì)損耗,。

儀器主要具有如下特點(diǎn)：

絕緣電阻測(cè)試

儀器集成絕緣電阻測(cè)試模塊，可進(jìn)行極化指數(shù),、吸收比以及絕緣電阻的測(cè)試,。

LCR全自動(dòng)測(cè)量

全自動(dòng)電感、電容,、電阻測(cè)量,，角度顯示。

多種測(cè)試模式

儀器能夠分別使用內(nèi)高壓,、外高壓,、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn),、正接法,、反接法、自激法等多種方式測(cè)試,；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗,。

CVT測(cè)試一步到位

該儀器還可以測(cè)試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量,，實(shí)現(xiàn)了C1,、C2的同時(shí)測(cè)試。該儀器還可以測(cè)試CVT變比和電壓角差,。

不拆高壓引線(xiàn)測(cè)量CVT

儀器可在不拆除CVT高壓引線(xiàn)的情況下正確測(cè)量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值,。

CVT反接屏蔽法測(cè)量C0

儀器可采用反接屏蔽法測(cè)量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。

多重保護(hù)安全可靠

儀器具備輸入電壓波動(dòng),、高壓電流,、輸出短路、電源故障,、過(guò)壓,、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施,，保證了儀器安全,、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能,，確保不接地設(shè)備不允許升壓,。

高速采樣信號(hào)

儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調(diào),。

海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器,，保存數(shù)據(jù)200組，能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存,，隨時(shí)可以查看歷史記錄,，并可以打印輸出,。

超大液晶中文顯示

操作簡(jiǎn)單，儀器配備了優(yōu)異的全觸摸液晶顯示屏,，超大全觸摸操作界面,，每過(guò)程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)就能使用,。輕輕點(diǎn)擊一下就能完成整個(gè)過(guò)程的測(cè)量,，是目前非常理想的智能型介損測(cè)量設(shè)備。

二  LYJS9000G雙變頻介損儀工作原理

                   圖 2—1  測(cè)量原理圖

三   主要技術(shù)參數(shù)

四  面板說(shuō)明

1.緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

2.復(fù)位按鈕

3.U盤(pán)接口

4.總電源開(kāi)關(guān)

5.AC220V電源輸入插座

6.：標(biāo)準(zhǔn)電容輸入插座

7.Cx：試品輸入插座

8.觸摸顯示屏

9.接地接線(xiàn)柱

10.ES自激輸出

11.打印機(jī)

12.高壓輸出HV插座

4.1,、緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

安裝位置：如圖4—1— eq oac(○,1)1,。

功    能：在儀器測(cè)試過(guò)程中有高壓輸出時(shí)，遇緊急情況需要斷開(kāi)高壓輸出,，即可按下緊急停機(jī)按鈕立即從內(nèi)部切斷高壓輸出,；按鈕內(nèi)置指示燈作為高壓輸出指示燈。

4.2,、復(fù)位按鈕

安裝位置：如圖4—1— eq oac(○,2)2,。

功    能：提供儀器復(fù)位功能。 

4.3,、U盤(pán)接口

 安裝位置：如圖4—1—③。

功    能：可把儀器內(nèi)部保存的測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入并保存到U盤(pán)中,。

注    意：數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程當(dāng)中嚴(yán)禁拔出U盤(pán),，只有當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸完畢后并且液晶屏上出現(xiàn)拔出U盤(pán)的提示后，方可拔出U盤(pán),，否則有可能燒毀U盤(pán),。

4.4、總電源開(kāi)關(guān)

 安裝位置：如圖4—1—④,。

 功    能：打開(kāi)此關(guān),，儀器上電進(jìn)入工作狀態(tài)。關(guān)閉此開(kāi)關(guān),，也同時(shí)關(guān)閉儀器內(nèi)部所有電源系統(tǒng),，緊急情況應(yīng)立即關(guān)閉此開(kāi)關(guān)并拔掉輸入電源線(xiàn)。

4.5,、電源輸入插座

 安裝位置：如圖4—1—⑤,。

 功    能：提供儀器工作電源。(AC 220V±10%)

 接線(xiàn)方法：使用標(biāo)準(zhǔn)插座與市電或發(fā)電機(jī)相連接,。

 注    意：電源插座內(nèi)部帶有保險(xiǎn)管保護(hù)裝置,，不正常情況下可燒毀保險(xiǎn)管保使儀器斷電，保護(hù)儀器內(nèi)部,。  

4.6,、標(biāo)準(zhǔn)電容器輸入Cn插座

 安裝位置：如圖4—1—⑥,。

 功    能：外接標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)。

 接線(xiàn)方法：外標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)電纜芯線(xiàn)接標(biāo)準(zhǔn)電容測(cè)試端,，電纜屏蔽層接標(biāo)準(zhǔn)電容器屏蔽極,。外標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)不管是正接法還是反接法測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)電容器接線(xiàn)方法不變,。此方式用于外接高電壓等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電容器,，實(shí)現(xiàn)高電壓介質(zhì)損耗測(cè)量。

4.7,、試品低壓輸入Cx插座

安裝位置：如圖4—1—⑦,。

功    能：正接法時(shí)輸入被試品測(cè)試信號(hào)。

接線(xiàn)方法：插座中心連接黑色信號(hào)線(xiàn)芯線(xiàn),；金屬外殼接黑色信號(hào)線(xiàn)屏蔽層,；正接法時(shí)芯線(xiàn)接被試品低壓信號(hào)端，若被試品低壓信號(hào)端有屏蔽極（如低壓端的屏蔽環(huán)）,，則可將屏蔽層接于屏蔽極,，無(wú)屏蔽極時(shí)屏蔽層懸空。

注   意： · 在啟動(dòng)測(cè)試的過(guò)程中嚴(yán)禁拔下插頭,，以防被試品電流經(jīng)人體入地,。

· 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測(cè)正接法精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器,，否則暴露的芯線(xiàn)可能受到干擾引起誤差,。

· 測(cè)試過(guò)程中應(yīng)保證插座中心測(cè)試芯線(xiàn)與被試品低壓端零電阻連接，否則可能引起測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動(dòng),。

· 強(qiáng)干擾下拆除接線(xiàn)時(shí),，應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開(kāi)連接，以防感應(yīng)電擊,。

4.8,、觸摸顯示屏（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間陽(yáng)光暴曬，避免重物擠壓和利器劃傷）

安裝位置：如圖4—1— eq oac(○,8)8,。

功    能：全觸摸大屏幕（120mm×90mm）中文顯示,，每一步操作清晰明了。

4.9,、接地接線(xiàn)柱

 安裝位置：如圖4—1—⑨,。

 功    能：儀器保護(hù)接地。

注    意：儀器內(nèi)部自帶接地保護(hù)裝置,，測(cè)試中應(yīng)當(dāng)保證可靠接入地網(wǎng),。否則儀器將自動(dòng)產(chǎn)生保護(hù)不開(kāi)始升壓測(cè)試。      

4.10、ES自激輸出

安裝位置：如圖4—1—⑩,。功    能：自激輸出,，儀器內(nèi)部為自激輸出變壓器的一端（變壓器另一端已接地），自激法測(cè)試CVT介損時(shí)連接到CVT的自激線(xiàn)圈（da）上,，dn接地,，為CVT提供測(cè)量所需高壓電源。

注   意： 因低壓輸出電流大,，應(yīng)采用儀器連接線(xiàn)連接到CVT二次繞組并使其接觸良好,，選擇正、反接法測(cè)量時(shí),，此輸出關(guān)閉,。

4.11、打印機(jī)

 安裝位置：如圖4—1— eq oac(○,11)11,。

 功    能：顯示可打印數(shù)據(jù)時(shí),，將光標(biāo)移動(dòng)至“打印”項(xiàng)按確認(rèn)鍵打印。

 注    意：打印機(jī)為全自動(dòng)熱敏打印機(jī),，打印紙寬55mm,。更換打印紙時(shí)請(qǐng)使用熱敏打印機(jī)打印紙，首先扳起打印機(jī)旁邊角,，打開(kāi)打印機(jī)蓋板,，然后按順序?qū)⒋蛴〖埛湃氪蛴〖垈}(cāng)內(nèi)并留少許部分在外面，*后合上打印機(jī)蓋板,。 

4.12,、高壓輸出HV插座  

 安裝位置：如圖4—2—?，外設(shè)保護(hù)門(mén),。

 功     能： 儀器變頻高壓輸出,；檢測(cè)反接線(xiàn)試品電流,；內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端,。

 接線(xiàn)方法：插座中心連接紅色高壓線(xiàn)芯線(xiàn)；金屬外殼連接紅色高壓線(xiàn)屏           蔽層,；正接法時(shí)芯線(xiàn)和屏蔽層都可以作加壓線(xiàn)對(duì)被試品高壓端加壓,；反接法時(shí)只能用芯線(xiàn)對(duì)被試品高壓端加壓，若試品高壓端有屏蔽極（如高壓端的屏蔽環(huán)）,，則可將屏蔽層接于屏蔽極,，無(wú)屏蔽極時(shí)屏蔽層懸空。

 注    意：· 在啟動(dòng)測(cè)試的過(guò)程中此插座帶有高壓有觸電危險(xiǎn),，優(yōu)良禁止觸碰高壓插座及與之相連的相關(guān)設(shè)備,。

· 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測(cè)正接法精度時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器，否則暴露的芯線(xiàn)可能受到干擾引起誤差,。

測(cè)試過(guò)程中應(yīng)保證插座中心紅色高壓線(xiàn)芯線(xiàn)與被試品高壓端零電阻連接,，否則可能引起測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動(dòng)。

五  使用說(shuō)明

5.1,、主菜單

打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測(cè)試選項(xiàng)進(jìn)行測(cè)量,。

※ 注：  儀器啟動(dòng)測(cè)試后,，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī),，不要按復(fù)位,。

5.2、一般測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線(xiàn),，然后點(diǎn)擊主界面“一般測(cè)試”選項(xiàng),，進(jìn)入下上等一般測(cè)試菜單（如圖5—2）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置,。

分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目,，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面,，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面,。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單,。測(cè)試過(guò)程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變,，然后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。開(kāi)始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的測(cè)試頻率自動(dòng)變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試,，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—4）,；測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果,。

注   意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線(xiàn)方法請(qǐng)查看第六章“參考接線(xiàn)” ,。

5.3、CVT測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線(xiàn)提示接好儀器外部的連線(xiàn),，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測(cè)試”選項(xiàng),，進(jìn)入下上等CVT測(cè)試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置,。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目,，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測(cè)試界面,，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測(cè)試界面,。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單,，進(jìn)入測(cè)試菜單（如圖5—7）。測(cè)試過(guò)程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變,，然后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試,。開(kāi)始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—8）,。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存,，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。

注    意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線(xiàn)方法請(qǐng)查看第六章“參考接線(xiàn)” ,。

5.4,、CVT變比測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線(xiàn)提示接好儀器外部的連線(xiàn)， 進(jìn)入CVT測(cè)試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測(cè)試”,，然后返回開(kāi)始測(cè)試界面（如圖5—9）,，長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量（如圖5—10），測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—11）,。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存,，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。  

5.5,、正反同測(cè)

首先根據(jù)相應(yīng)的接線(xiàn)提示接好儀器外部的連線(xiàn),， 進(jìn)入正反同測(cè)菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測(cè)試的高壓電壓,，然后保存返回（如圖5—12）,，長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—13）,。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存,，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。

5.6,、LCR測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線(xiàn),，按照【正接法（常規(guī)接線(xiàn)）】或者【反接法（常規(guī)接線(xiàn)）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等LCR測(cè)試菜單,。

然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置,。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改,。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面,，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面,。長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量,，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—14）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存,，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果,。

5.7、絕緣測(cè)試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線(xiàn)提示接好儀器外部與被試品之間的連線(xiàn)，然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測(cè)試”選項(xiàng),，進(jìn)入下上等絕緣測(cè)試菜單,。然后可選擇測(cè)試方式為正接法或反接法，選擇合適的測(cè)試電壓,。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測(cè)試,。

5.8、數(shù)據(jù)查詢(xún)

在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16）,，點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢(xún)”進(jìn)入,。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上,、下鍵移動(dòng)光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上,，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測(cè)量時(shí)間的先后所排列的，第000個(gè)數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù),，第199個(gè)數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù),。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目,，在此菜單里面可以按上,，下鍵翻頁(yè)至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號(hào)上，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作,。

5.9,、參數(shù)設(shè)置

打開(kāi)儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單（如圖5—18）后,，點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上,，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” ,、“分” ,、“秒” ，*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置,，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面,。

※ 注：

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請(qǐng)以實(shí)際儀器界面為主,，僅做參考,。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟,，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回,。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開(kāi)始設(shè)置。