從耦合電容的結(jié)構(gòu)可知,，整臺(tái)耦合電容器是由1 00個(gè)左右的單元件串聯(lián)后組成的,。就電容量而言,，其變化+IO%,，在100個(gè)單元件如有10個(gè)以下的元件發(fā)生短路損壞,，仍在允許范圍之內(nèi),。此時(shí)，另外90個(gè)左右單元電容要承擔(dān)較高的運(yùn)行電壓,，這對(duì)運(yùn)行中的耦合電容器的絕緣造成了極大的危害,。    
    造成耦合電容器損壞事故的主要原因多數(shù)是由于在出廠時(shí)就帶有一定的先天缺陷的廠家對(duì)電容芯子烘干不好，留有較多的水分,；或元件卷制后沒(méi)有及時(shí)轉(zhuǎn)入壓裝’造成元件在空氣中的滯留時(shí)間太長(zhǎng),，另外，還有在卷制中碰破電容器紙等,。個(gè)別電容器由于膠圈密封不嚴(yán),，進(jìn)入水分。此時(shí)一部分沉積在電容器底部,，另一部分水分在交流電場(chǎng)作用下將懸浮在油層的表面,，此時(shí)如頂部單元件電容器有氣隙，它容易吸收水分,，又由于頂部電容器的場(chǎng)強(qiáng)較高,，這部分電容器易損壞。對(duì)損壞的電容器解體后分析得知,，電容器表面已形成水膜,，由于表面存在雜質(zhì)，使水膜迅速電離而導(dǎo)電,，引起電容量的漂移,，介電強(qiáng)度、電暈電壓和絕緣電阻降低,，損耗增大,，從而使電容器發(fā)熱，后造成了電容器的失效,。所以每年的預(yù)防性試驗(yàn)測(cè)量絕緣電阻,、介質(zhì)損耗因數(shù)并計(jì)算出電容量是十分必要的,。
    電容器的擊穿往往是與電場(chǎng)的不均勻相聯(lián)系的，在很大程度上決定于宏觀結(jié)構(gòu)和工藝條件,，而電容器的擊穿就發(fā)生在這些弱點(diǎn)處,。在電容器內(nèi)部，無(wú)論是先天缺陷還是在運(yùn)行中受潮,，都首先造成部分電容器損壞,，運(yùn)行電壓將被完好電容器重新分配，此時(shí)每個(gè)單元件上的電壓較正常時(shí)偏高,，從而導(dǎo)致完好的電容器繼續(xù)損壞,，后導(dǎo)致電容器擊穿。
    為了減少耦合電容器的爆炸事故發(fā)生,，對(duì)運(yùn)行中的耦合電容器應(yīng)連續(xù)監(jiān)測(cè)與帶電測(cè)量電容電流,，并分析電容量的變化情況。