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深圳市秋山貿(mào)易有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 抹茶生產(chǎn)線,粉碎研磨珠,口紅硬度計(jì) |
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13823147203
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公司信息
- 聯(lián)系人:
- 林經(jīng)理
- 電話:
- 手機(jī):
- 13823147203
- 地址:
- 深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
- 郵編:
- 個(gè)性化:
- www.cnakiyama.com
AE-1152D_11C日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
參考價(jià) | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 型號(hào) AE-1152D_11C
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 所在地 深圳市
更新時(shí)間:2020-12-10 11:46:04瀏覽次數(shù):1826
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日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
- 非常適合分流電阻器等的超低電阻測(cè)量,。
- 取消對(duì)熱電效應(yīng)的測(cè)量
- 脈沖測(cè)量電流,,以減少測(cè)量端子的自熱和磨損
- 接觸檢查功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
- 測(cè)量:0.0000mΩ?1.5000kΩ
- %測(cè)量值:0.1mΩ?1kΩ/±50.00%[小分辨率10nΩ]
- GP-IB / RS-232C / Centronics接口(可選)
- 配備BIN功能[BIN1至BIN9] (多可以分類11個(gè)),,集電極開路輸出,,LED顯示和蜂鳴器聲音
- 測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
- 移位輸出可能
測(cè)量范圍和基本精度(環(huán)境溫度23°C±5°C)
測(cè)量范圍 | 測(cè)量范圍 | 解析度 | 實(shí)測(cè)電流 | 測(cè)量精度 |
---|---|---|---|---|
1毫歐 | 0.0000mΩ?1.5000mΩ | 0.1微歐 | 3A | ±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega) ±3Digit [平均] ±4位數(shù)[SLOW] ±5digit [快] 內(nèi) |
10毫歐 | 0.000mΩ至15.000mΩ | 1微歐 | 1A | |
100毫歐 | 0.00mΩ至150.00mΩ | 10微歐 | ||
1Ω | 0.0000Ω?1.5000Ω | 100微歐 | 100毫安 | |
10Ω | 0.000Ω至15.000Ω | 1毫歐 | ||
100Ω | 0.00Ω至150.00Ω | 10毫歐 | 10毫安 | |
1KΩ | 0.0000kΩ至1.5,000kΩ | 100毫歐 | 1毫安 | |
% | 0.1mΩ?1kΩ/±50.00% | 0.01%[10nΩ] | 看上面 | 參考規(guī)格 |
測(cè)量端子開路電壓 | 5V以下 |
---|---|
測(cè)量方式 | 4端子測(cè)量[可進(jìn)行接觸檢查] |
采樣時(shí)間 | [自由運(yùn)行] 2至10次/秒 |
[外部啟動(dòng)]大約9毫秒-400毫秒,。 | |
比較器設(shè)定范圍 | 上限和下限均為[0至15000], %范圍:低0至-50%,,高0至+ 50% |
比較器判斷結(jié)果顯示 | [BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器 |
控制信號(hào) | 測(cè)量開始信號(hào):以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始 |
保持信號(hào):斷開,,“ H” [DC12V]:自由運(yùn)行,,“ L” [0V]:保持 | |
判斷結(jié)果信號(hào)[LO / GO(BIN1至BIN9)/ H1] :集電極開路輸出max40V,100mA | |
接觸錯(cuò)誤[CONT-E]: 集電極開路輸出大40V,,100mA | |
測(cè)量結(jié)束信號(hào)[EOC]:集電極開路輸出大40V,,100mA | |
周邊環(huán)境 | 溫度:5℃?+ 40℃濕度:85%以下 |
需要電源 | AC85V-265V,,50-60HZ,,約60VA |
外形尺寸 | 333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡膠腳等突起) |
重量 | 約3kg |
選項(xiàng) | ? RS-232C | 這些選項(xiàng)中 只有 一個(gè) 可以內(nèi)置。 |
---|---|---|
? GP-IB | ||
?打印機(jī)輸出(Centronics) | ||
?打印機(jī)電纜 | ||
?短接(零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻) |
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀