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近場探頭EM5030

        近場探頭EM5030主要用于電子產(chǎn)品的電磁場測量，實現(xiàn)干擾源快速位,，多種形狀的探頭,，寬頻率范圍,，可以完成多種的電磁場測試任務(wù)。配套使用的放大器,，增益約20dB,，可提高系統(tǒng)測試靈敏度！廣泛應(yīng)用于檢測器件或者是表面的磁場方向及強度,；機箱,、線纜、PCB模塊等磁場泄露情況,；甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線,，從而判斷干擾產(chǎn)生的原因，提高產(chǎn)品設(shè)計水平,，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期,。

          近場探頭通過移動探頭可檢測磁場方向和分布，找出干擾源,，提高EMC整改效率,。具有寬頻率范圍，多種探頭,，可以滿足多種電磁場測試任務(wù),，其中的無源探頭可匹配頻譜儀/接收機示波器50Ω輸入端被，方便檢查磁場或電流變化,。近場探頭使用方便,，安裝快捷，定位干擾源,。

【近場探頭產(chǎn)品規(guī)格】

【 前置放大器規(guī)格】