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CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹

閱讀:500      發(fā)布時間:2025-1-16
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      隨著人工智能技術(shù)的日新月異,,AI算力芯片作為驅(qū)動復(fù)雜計算任務(wù)的核心引擎,其性能與穩(wěn)定性成為了決定應(yīng)用成敗的關(guān)鍵因素,。而在這背后,,供電電源的穩(wěn)定性和高效性則是保障AI算力芯片持續(xù)、穩(wěn)定工作的基石,。

      接下來我們就來揭秘一款專為AI算力芯片測試設(shè)備超低電壓特大電流電子負(fù)載,。


CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹


一、高精度,、高功率,、穩(wěn)定供電的守護(hù)者


      AI算力芯片在處理大規(guī)模數(shù)據(jù)和復(fù)雜計算時,對電能的穩(wěn)定需求極為苛刻,。費思電子負(fù)載憑借其高功率穩(wěn)定性測試能力,、高精度穩(wěn)定電流電壓,、超低電壓特大電流。能夠精準(zhǔn)模擬這種高負(fù)載場景,,對供電電源進(jìn)行長時間,、高強(qiáng)度的穩(wěn)定性測試。無論是調(diào)整負(fù)載的電流還是電壓值,,費思電子負(fù)載都能輕松應(yīng)對,,且能將電流精度控制在

0.5%+0.05%F.S.,電壓精度控制在0.025%+0.025%F.S.,。從而確保電源在不同負(fù)載條件下依然能夠輸出穩(wěn)定,、可靠的電能,為AI算力芯片提供堅實的后盾,。


二,、超低壓大電流,處理器的支撐者


      AI算力高速的處理信息和執(zhí)行復(fù)雜的運算,,依靠高性能的中央處理器(CPU),、影音處理器、圖形處理器(GPU),、高速高容量內(nèi)存,。相關(guān)的處理器電源所需電壓Vcore與GPU電壓范圍大約在0.6V至1.5V,VCORE電源的電流范圍大約在300A至800A,;GPU電源電流范圍在800A~1400A,,并持續(xù)朝大電流及高功率發(fā)展,費思低壓大電流電子負(fù)載能夠達(dá)到驚人的0V@1200A和0.2V@5000A,這是國產(chǎn)電子負(fù)載里程碑上的突破,,其搭載的高等級測試功能滿足AI算力芯片供電電源測試的需求,,不斷優(yōu)化和提升AI算力的性能和效率,為AI應(yīng)用的發(fā)展與普及奠定更加堅實可靠的基礎(chǔ),。


三,、動態(tài)響應(yīng),應(yīng)對萬變的工作負(fù)載

CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹


      AI算力芯片的工作負(fù)載瞬息萬變,,這對AI算力芯片供電電源的動態(tài)響應(yīng)能力提出了高要求,。費思電子負(fù)載憑借其瞬態(tài)測試和序列測試功能,能夠精準(zhǔn)模擬各種動態(tài)負(fù)載變化場景,,如連續(xù),、脈沖、翻轉(zhuǎn)等模式,。這不僅幫助測試人員全面評估AI算力芯片供電電源在動態(tài)負(fù)載下的響應(yīng)速度和穩(wěn)定性,,更為AI算力芯片在各種復(fù)雜應(yīng)用場景下的穩(wěn)定運行提供了有力保障。


四、全面保護(hù),,守護(hù)芯片安全


CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹


      在AI算力芯片的運行過程中,,過載、短路等異常情況時有發(fā)生,。為了確保芯片的安全,,供電電源必須具備完善的保護(hù)機(jī)制。費思電子負(fù)載提供過電流,、過電壓,、過功率、過溫度等多種保護(hù)功能,,并通過模擬短路,、過載等故障場景來評估AI算力芯片供電電源的保護(hù)機(jī)制有效與否。這種全面的保護(hù)機(jī)制驗證,,讓AI算力芯片在遭遇異常情況時能夠得到及時有效的保護(hù),,避免了潛在的安全隱患,。    


五,、全面電池測試性能,確保續(xù)航無誤


CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹

       

      電子負(fù)載提供電池容量測試,、電池內(nèi)阻測試以及電池充電測試等功能,,能夠全面模擬電池的充放電過程,對電池的續(xù)航能力和充電效率進(jìn)行評估,。這不僅有助于提升AI算力芯片在電池供電模式下的穩(wěn)定性,,更為用戶提供了更加便捷、高效的電池管理方案,。


六,、尺寸縮減,靈活便捷

CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹


      對比與市場上的同類型電子負(fù)載,,電子負(fù)載可以做到拉載同等電流下體積減少90%,,功率減少94%。這一舉措意味著在相同的空間內(nèi)部,,可以部署更多的測試設(shè)備,,也能降低電能的消耗。伴隨著AI技術(shù)的不斷進(jìn)化,,AI算力芯片的性能持續(xù)提升,,對其測試設(shè)備的測試效率也會有更高的要求。費思電子負(fù)載以其更小的尺寸,,更高效地模擬各種負(fù)載情況,,助力加速AI算力芯片供電電源的測試過程,提高測試效率。


七,、電子負(fù)載相關(guān)型號


CPU芯片測試特大電流電子負(fù)載的產(chǎn)品介紹

     

      為方便電池測試,,低壓大電流電子負(fù)載提供了電池容量測試功能。電池測試包括:電池內(nèi)阻測試與電池容量測試,。電池容量測試采用恒電流方式進(jìn)行放電,。放電過程中,,負(fù)載自動記錄電壓,、電流、時間,、AH等參數(shù),。



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