EMI測試(Electromagnetic Interference Testing,電磁干擾測試)是一種用于評估電子設(shè)備在其工作過程中產(chǎn)生的電磁干擾(EMI)水平的測試方法。EMI測試的目的是確保電子設(shè)備在正常工作時不會產(chǎn)生過多的電磁干擾,,以免影響其他設(shè)備的正常運(yùn)行,。
示波器配近場探頭主要是完成EMI測試中的輻射發(fā)射測試,即測量設(shè)備在工作時通過空氣傳播的電磁干擾,。除了輻射發(fā)射測試,,EMI測試還包括傳導(dǎo)發(fā)射測試,它需要使用EMI測試接收機(jī)/實(shí)時頻譜儀+人工電源網(wǎng)絡(luò)+隔離變壓器,,測量設(shè)備在工作時通過電源線傳播的電磁干擾,。這類測試通常在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行,以減少環(huán)境噪聲對測試結(jié)果的影響,。
1,、確認(rèn)示波器是否有對應(yīng)的頻譜分析功能或者FFT功能,及對應(yīng)的頻譜分析帶寬范圍,,如1GHz或者3GHz,。
2、確認(rèn)示波器是否有對應(yīng)近場探頭轉(zhuǎn)接頭的N型母頭接口,,如果沒有N型接口就需要選擇帶BNC的轉(zhuǎn)接頭,。
3、確認(rèn)被測物的頻率范圍及對應(yīng)的近場探頭類型,,如磁場或電場,,大部分頻率為9kHz~3GHz/6GHz/9GHz/18GHz。
4,、連接近場探頭和示波器,,打開示波器的頻譜分析功能,并且將近場探頭懸停在被測物上空2厘米處(越近越好),,每隔5秒移動一次,,看波形變化,也可以對比下開啟/關(guān)閉被測物瞬間波形變化,。
5,、如果被測信號比較小,可以加一個前置放大器搭配近場探頭使用,。
6,、發(fā)現(xiàn)干擾源之后,可以更換探頭(形狀由大到?。┖么_認(rèn)具體的位置,。
7、近場探頭是定性測試,,不是定量測試,,與暗室測試結(jié)果不盡相同,。
8、長時間沒發(fā)現(xiàn)干擾源的時候,,可以考慮購買EMI測試接收機(jī)或者實(shí)時頻譜分析儀搭配近場探頭使用,。
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