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近場探頭及放大器的應(yīng)用方案介紹

（EM8030 近場探頭+EM8020A/B 放大器）

專為近場測試設(shè)計的探頭

特別適用于電子產(chǎn)品的電磁場測量 

一、為什么要近場測量

       在EMC 測試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中,，是遠(yuǎn)場測量，遠(yuǎn)場測試只是能給出頻率信息,。顯示各個頻點(diǎn)的輻射強(qiáng)度，但是沒有給出具體的位置信息,。為了通過測試,，如果沒有目的的對電路進(jìn)行更改,，將會花大量的時間，精力,，經(jīng)費(fèi),。加長了產(chǎn)品的研發(fā)周期。所以必須對產(chǎn)品的輻射根源進(jìn)行排查,，這樣就要用到近場探頭來具體定位干擾源，后級接放大器,，可大大提高測試靈敏度。

二,、CYBERTEK 近場探頭套件特點(diǎn)

1. 寬頻率范圍，多種形狀的探頭,，可以完成多種的電磁場測試任務(wù),。
2. 通過移動探頭可以檢測出磁場的方向和分布,，適用于機(jī)箱線纜電磁泄露,，IC 引腳區(qū)域，EMC 器件等的磁場檢測,。
3. 無源探頭,，可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50 歐姆輸入端,，方便檢查使用不同手段對磁場或者電流的變化,。如果應(yīng)用場合的信號比較弱，可在后級增加EM8020A/B 放大器,，增益約20dB/30dB，提高系統(tǒng)測試靈敏度,！
4. 探頭輕巧，使用方便,。

三、近場探頭應(yīng)用領(lǐng)域

1. 查找干擾源,，完成定位，甚至可以到IC 引腳以及具體的走線,，從而判斷干擾產(chǎn)生的原因
2. 可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強(qiáng)度
3. 可以檢測機(jī)箱,、線纜、PCB 模塊等磁場泄露情況

四,、測試示意圖

      CYBERTEK EM8030 近場探頭測試頻率可達(dá)3G,，在產(chǎn)品的開發(fā)期間可用探測PCB 的磁場變化情況。如電動機(jī)磁場輻射強(qiáng)度很強(qiáng),，可以不加放大器。示意圖如下：

五,、測試方法

      步利用EM8030-1 或者EM8030-2 檢測大概磁

      第二步利用EM8030-3 或者EM8030-4 實現(xiàn)準(zhǔn)確定位

示意圖如下：

六,、應(yīng)用案例（開關(guān)電源）

      步利用EM8030-1 探測PCB 某處磁場大概強(qiáng)度

從圖上可以看到：10MHz 附近70MHz 附近107MHz 附近有較強(qiáng)的磁場輻射

第二步利用EM8030-3 進(jìn)一步定位（發(fā)現(xiàn)探頭附近有兩個很長的引線,，探測這兩根線）

上圖看到探測到的這根線（該線為電池供電時的初級線圈）輻射比較強(qiáng),，頻率在10MHz 附近和70MHz 附近！

        上圖看到探測到的這根線（電壓輸出線）在頻率107MHz 的輻射比較強(qiáng)（上圖中的10MHz 處點(diǎn)輻射也很強(qiáng)，后來發(fā)現(xiàn)是頻譜儀的問題）通過以上兩步基本查到了不同頻率點(diǎn)的輻射源,，下面的問題相對就比較容易了,！當(dāng)然我們可以看到上圖的信號比較微弱，可以配套本公司的EM8020A/B 放大器,，測試效果如下：

后級加放大器后,，看到測到的輻射強(qiáng)度明顯增加,，靈敏度提高很多,！