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測量部位包括:
(1)母線連接處以及其他元器件與母線的連接處,。
(2)抽屜式設(shè)備的母線室,、功能單元室和電纜室的空間。
(3)可觸及的門,、手柄和覆板,。
以上三種部位均應(yīng)盡量選產(chǎn)生溫升zui高點進行測量。
當(dāng)溫度變化不超過1℃/h時,,則可記錄其溫升值,。其值應(yīng)不超過有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定值。裝置內(nèi)絕緣沒有破壞,,元器件在設(shè)備內(nèi)的溫度條件下正常工作,,則溫升試驗合格,。
試驗方案應(yīng)選擇損耗zui大的方案。
進行單獨電路的溫升試驗時,,電路應(yīng)通以設(shè)計規(guī)定的額定工作電流,。
進行裝置的溫升試驗時,在考慮了額定分散系數(shù)后,,應(yīng)選擇一個或幾個有代表性的并能獲得zui高溫升的電路,,給這些電路通以各自設(shè)計規(guī)定的額定工作電流。
試驗時輔助電路(包括繼電器,、接觸器,、脫扣器的線圈)應(yīng)加上設(shè)計規(guī)定的額定工作電壓。
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