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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀

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多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2
多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號
  • 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時間:2024-09-02 19:31:00瀏覽次數(shù):1065

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!

【簡單介紹】
應用領域 電子,交通,冶金,航天,汽車
多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2
作為測量鍍層厚度*簡單的方法之-一,庫侖法可以用于各種鍍層組合,。尤其對于多鍍層結構,當 允許破壞性測量時,,它提供了一個比X射線更經(jīng)濟的替代方法。強大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗
【詳細說明】

CMS2特征

?    大尺寸高分辨率的彩色顯示器
?    簡單的操作和圖示的用戶指導
?    使用V18支架實現(xiàn)半自動化測量
?    電解速度和測量面積的簡單選擇
?    電壓曲線圖形顯示
?    圖形和統(tǒng)計分析
?    多語言和計量單位可供選擇

CMS2 STEP殊功能
?    同時測量鍍層厚度和電位差
?    銀參比電極的簡單準備
?    可調(diào)節(jié)的電解電流

 

 

 

COULOSCOPE CMS2介紹

 

作為測量鍍層厚度*簡單的方法之-一,庫侖法可以用于各種鍍層組合,。尤其對于多鍍層結構,,當 允許破壞性測量時,它提供了一個比X射線更經(jīng)濟的替代方法,。
        強大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗,。很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡單快速地測量,。這個方法為任何金屬鍍層提供了精確的測量。在厚度范圍0.05.50um內(nèi),,很多,材料不需要預設定:基材組成和幾何形狀對于測量都是無關緊要的,。*常見的應用之- -就是測量線路板上剩余的純錫,以確??珊感?。多鍍層例如Cr/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個方法進行測量,。

COULOSCOPE CMS2的應用實例:電鍍緊固件,,測量PCB板上的剩余純錫厚度,鍍鉻件以及浴室用品

 

 

原理:

這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標準的庫侖法,。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程,。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,,假如電流和剝離面積保持不變,,鍍層厚度與電解時間就是成正比的關系,。

 

下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度:

測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定,。對不同的金屬采用不同配方的電解液,。 通過載入電流開始電解過程。電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制,, 用一個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,,保證電解液利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小,,各種直徑的墊圈可供選擇,。

         

 

 

 

COULOSCOPE CMS2 STEP介紹

STEP Test 是在允許腐蝕的情況下用來同時測量電位差和多層鎳的鍍層厚度,, 該方法是這個應用領域的標準,。 多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個目的而設計的,,它操作簡單,參比電極使用起來也不復雜,,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應用,。

        電鍍鎳層用作電解保護和提高機器表面屬性,,如硬度等。特別是汽車工業(yè)中,,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求,。單一鎳層無法滿足該要求,。因此,目前正在開發(fā)非常復雜的鍍層系統(tǒng),,其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層,,還有鉻或銅鍍層,。

 


 

 


測量原理:

STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)(同時測量鍍層厚度和化學電位差)的簡寫,, 是已經(jīng)標準化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學電位差,。 厚度測量時用庫侖法來測量,電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測量,。電壓曲線可以顯示在屏幕上,鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出,。

        為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測量結果,,參比電極到工件的距離必須始終保持不變,。 這個問題通過特殊的測量槽得到解決。銀參比電極被設計成一個圓錐形的環(huán)狀電極,,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接,。測量槽的設計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。銀參比電極被設計成一個圓錐形的環(huán)狀電極,,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變,。



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