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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-08-28 20:06:40瀏覽次數(shù)：1190
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子,交通,電氣 |
影響因素：
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）,，為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見附表1,。
d邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的,。
e曲率
試件的曲率對測量有影響,。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的,。
f試件的變形
測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù),。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響,。粗糙程度增大，影響增大,。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn),；或用對基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對儀器的零點(diǎn),。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作,。
h附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,，因此，必須清除附著物質(zhì),，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸,。
i測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)，因此,，要保持壓力恒定,。
j測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直,。
涂層測厚儀價(jià)格精度高QNix 4200
遵守規(guī)定
a 基體金屬特性
對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,。
對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似,。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有,，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn),。
c 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量,。
d 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
e 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。
f 表面清潔度
測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),，如塵土,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。
涂層測厚儀尼克斯篤摯供應(yīng)QNix4200
上海篤摯儀器有限公司主要從事光電產(chǎn)品的技術(shù)開發(fā)、生產(chǎn)的高新科技企業(yè),。從事行業(yè)涉及顏色測量,、光澤度測量,、涂層膜厚測量、光譜測量,、光源開發(fā)等多個(gè)領(lǐng)域,，在顏色測量、光譜測量方面有多項(xiàng)技術(shù),。目前批量生產(chǎn)的系列色差儀,、光澤度儀、涂層測厚儀,，處于國內(nèi)水平,。
