人工晶狀體半成品測量儀的原理和優(yōu)勢

閱讀：2772發(fā)布時間：2018-8-26

人工晶狀體半成品測量儀的原理：

設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺度為0.5度的光學角度測量儀組成,。用于測試人工晶狀體在一個處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。

人工晶狀體半成品測量儀按標準提供一套符合要求的EXCEL格式測試報告軟件,，其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計算公式,。*符合YY0290-2008附錄D相關(guān)標準設(shè)計完成。

人工晶狀體半成品測量儀的優(yōu)勢：

測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑,。

測量散光,，軸線及殘余散光。

干涉條紋可以體現(xiàn)整個表面的光學特征,。

數(shù)值化和圖形化整個表面的曲率分布,。

對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度,，是否對準,，是否磨損等。

人工晶狀體半成品測量儀其他優(yōu)勢：

可以輕易分辨細微的表面缺陷,，即便是某些其他設(shè)備不可見的細節(jié),。

不需要特殊的防震平臺。

可測量樣品的整個表面區(qū)域,，包括環(huán)形區(qū)域,。

人工晶狀體半成品測量儀的技術(shù)參數(shù)：

測量范圍：3-64mm凸面或凹面

測量精度：優(yōu)于5微米

重復性：優(yōu)于2.5微米

測量時間：5-8秒（球鏡）

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