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珠海真理光學儀器有限公司

PRODUCT DISPLAY

當前位置:珠海真理光學儀器有限公司>>納米粒度分析儀>> Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀

納米粒度及Zeta電位分析儀

參  考  價:¥180000 - ¥250000 /件
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號

    Nanolink SZ901

  • 品牌

    linkoptik/真理光學

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    珠海市

更新時間:2025-02-18 09:08:30瀏覽次數(shù):7503次

聯(lián)系我時,,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 電位值范圍 ±600mV
價格區(qū)間 10萬-30萬 使用溫度范圍 0°C - 90°C (120°C可選)℃
溫度分辨率 0.1度 應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源
重復性 優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標準樣品)% 準確性 優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標準樣品)%
測量原理 動態(tài)光散射(DLS)、靜態(tài)光散射(SLS),、電泳光散射(ELS) 粒徑測量角度 90°
粒徑測量范圍 0.3nm-15μm 光源 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW,?波長638nm
相關(guān)器 高速數(shù)字相關(guān)器,,自適應通道配置 檢測器 ?高靈敏度APD
Nanolink SZ901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng),采用動態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析,,被廣泛應用于有機或無機納米顆粒,、乳液、高分子聚合物,、膠束,、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。

Nanolink SZ901的性能和主要特點包括:

經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑,,測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析,,可預知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團聚的傾向性

加持自動恒溫技術(shù)的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源,儀器即開即用

激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)

信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)

集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

常規(guī)溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C

新一代高速數(shù)字相關(guān)器,,動態(tài)范圍大于1011

      ◆ 冷凝控制 干燥氣體吹掃技術(shù)


技術(shù)指標:

測量原理動態(tài)光散射(DLS),、靜態(tài)光散射(SLS)、電泳光散射(ELS)
粒徑測量角度90°,,12°(Zeta電位)
粒徑測量范圍0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量3ul*
粒徑測量最小樣品濃度0.1mg/ml
粒徑測量最大樣品濃度40%/wv**
檢測點位置距入射點0~5mm可調(diào)
檢測點定位精度0.01mm
Zeta電位測量技術(shù)余弦擬合位相分析法(CF-PALS)
Zeta電位測量范圍無實際限制
適用Zeta電位測量的粒徑1nm - 120μm*
遷移率范圍最小0,,最大無實際限制
最大電導率270mS/cm
電極插入式平板電極、U型毛細管電極
分子量范圍340Da - 2x107Da
其它高級測量/計算功能介質(zhì)粘度,、折光率,、樣品透過率/濃度,、第二維利系數(shù)、顆粒間相互作用力系數(shù)和聚集度指數(shù)
光源集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器
光強度調(diào)整范圍自動調(diào)節(jié),,0.0001%~100%
相關(guān)器高速數(shù)字相關(guān)器,,自適應通道配置
檢測器高靈敏度APD
溫度控制范圍-15°C ~ 120°C
溫度控制精度±0.1°C
進樣方式手動/自動
樣品池(選配)12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池,、40μL微量樣品池
環(huán)境要求5-40℃,,10%-80%相對濕度(無凝結(jié))
工作電源AC100V-240V,標準接地,,直流電源供電24V/5A
系統(tǒng)重量20kg
外形尺寸430mm x 512mm x 230mm (LxWxH) (LxWxH)



   注:* 取決于樣品及樣品池選件    ** 取決于測量角度



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