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納米粒度儀主要的2種測量原理
納米粒度儀采用動態(tài)光散射(DLS)技術進行納米粒度測量，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒,、乳液、高分子聚合物,、膠束,、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
測量原理：動態(tài)光散射（DLS）,、靜態(tài)光散射（SLS）,。
光源：集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的功率50mW，波長638nm固體激光器,。
相關器：高速數(shù)字相關器,，自適應通道配置。
主要特點包括：
1.經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術測量粒徑,，測量范圍覆蓋0.3nm-15μm,。
2.加持自動恒溫技術的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用,。
3.激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術,。
4.信號光與參考光的光纖合束及干涉技術。
5.集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器,。
6.常規(guī)溫度控制范圍可達0°C ~ 90°C,，可選120°C,， 精度±0.1°C。
7.新一代高速數(shù)字相關器,，動態(tài)范圍大于10¹¹,。
8.冷凝控制-干燥氣體吹掃技術。
珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發(fā)和生產(chǎn),，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術領域具有豐富經(jīng)驗和工作成就的精英人才,，其涵蓋顆粒表征技術的基礎理論研究、應用技術開發(fā),、產(chǎn)品制造,、技術支持和商業(yè)運營服務。