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粒度分布測(cè)試的影響因素和方法介紹
當(dāng)前主流的粒度分布測(cè)試儀有以下幾種:激光粒度儀(光散射等效原理),,庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器(小孔電阻等效原理),,圖像粒度分析儀(投影面積等效原理),沉降儀(沉降速度Stocks原理),。
激光粒度儀量程范圍一般可達(dá)0.1-1000微米,。且其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍大,是應(yīng)用普及的粒度儀,。
庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)精度高,,量程范圍一般為1-250微米,由于其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍小,,測(cè)量上限和下限也不足,。主要應(yīng)用在樣品為窄分布的粉體行業(yè)。
圖像粒度分析儀,,量程跟配置的顯微鏡性能直接相關(guān),。其同樣存在動(dòng)態(tài)范圍小,不適合測(cè)試寬分布樣品的不足之處,。但是它可以進(jìn)行顆粒形貌分析,,這一特性是其*的。
沉降儀的性能特點(diǎn)與激光粒度儀近似,,但是它在測(cè)量速度和量程大小上落后于激光粒度儀,,目前在大多數(shù)行業(yè)都被激光粒度儀所取代了。