涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)及參數(shù)
閱讀:562 發(fā)布時(shí)間:2018-3-12
1,、零位穩(wěn)定:所有涂層測(cè)厚儀性能測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提,。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測(cè)量,。
2,、無需校準(zhǔn):多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校,。測(cè)量某一范圍厚度,,要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度,。不僅操作煩瑣,,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差,。
3,、溫度補(bǔ)償:涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差,。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),,以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭:探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度,。普通金屬接觸探頭,,其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
4,、*的直流采樣技術(shù):使測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高,。
5、一體化設(shè)計(jì)
6,、自動(dòng)開關(guān)機(jī)
QuaNix/Qnix技術(shù)參數(shù) | ||
型 號(hào) | 4200 | 4500 |
基 體 | Fe | Fe/NFe |
探頭形式 | 一體 | |
顯 示 | LCD數(shù)字顯示 | |
測(cè)量范圍 | 0-3000μm | Fe:0-3000μm NFe:0-3000μm |
測(cè)量精度 | 0-50μm:≤±1μm,,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,, 2000-3000μm≤±3% | |
顯示精度 | 0-99μm:0.1μm,,1000μm以上,0.01mm | |
工作溫度 | -10 - +60℃ | |
溫度補(bǔ)償 | 0-50℃ | |
zui小基體 | 10mm×10mm | |
zui小曲率 | 凸,、凹半徑:3mm/25mm | |
zui薄基體 | Fe:0.2mm,,NFe:0.05mm | |
電 源 | 5號(hào)電池2節(jié) | |
重 量 | 110g | |
尺 寸 | 110×60×27mm |