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| 產地類別 | 國產 | 類型 | 數字式電阻測試儀 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 地礦,能源,電子,航天,電氣 |
產品簡介
詳細介紹
ST-21方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜）,，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻,。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源,；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數,，使儀器具有體積小,、重量輕、外形美,、易操作,、測量速度快,、精度高的特點。
特點：
采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,，測量準確穩(wěn)定,，低功耗；
以大屏幕LCD顯示讀數,，直觀清晰,；
采用單個電池供電,，帶電池欠壓指示；
體積≤175mm X90mm X42mm,，重量≤300g,；
特制之手握式探筆，球形探針,、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
探頭帶抗靜電模塊
ST-21方塊電阻測試儀技術指標：
測量范圍 | 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： |
恒流源 | 測量過程誤差：≤±0.8% |
模數轉換器 | 量程：0～199.99mv,； |
測量不確定度 | 在整個量程范圍內,，測量不確定度≤5% |
四探針探頭規(guī)格 | 間距：1mm、1.59mm,、3.8mm；偏差≤2%,；游移率≤0.3%,；絕緣電阻≥500MΩ |
電源 | 9V疊層電池1節(jié) |