產地類別 | 國產 | 類型 | 數字式電阻測試儀 |
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應用領域 | 地礦,能源,電子,航天,電氣 |
產品簡介
詳細介紹
ST-21方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),,金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻,。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源,;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,,使儀器具有體積小,、重量輕、外形美,、易操作,、測量速度快,、精度高的特點。
特點:
采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,,測量準確穩(wěn)定,,低功耗;
以大屏幕LCD顯示讀數,,直觀清晰,;
采用單個電池供電,,帶電池欠壓指示;
體積≤175mm X90mm X42mm,,重量≤300g,;
特制之手握式探筆,球形探針,、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
探頭帶抗靜電模塊
ST-21方塊電阻測試儀技術指標:
測量范圍 | 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔: |
恒流源 | 測量過程誤差:≤±0.8% |
模數轉換器 | 量程:0~199.99mv,; |
測量不確定度 | 在整個量程范圍內,,測量不確定度≤5% |
四探針探頭規(guī)格 | 間距:1mm、1.59mm,、3.8mm;偏差≤2%,;游移率≤0.3%,;絕緣電阻≥500MΩ |
電源 | 9V疊層電池1節(jié) |