TC WAFER 晶圓測(cè)溫系統(tǒng)
高低溫探針臺(tái) TC WAFER 晶圓測(cè)溫系統(tǒng)
探針臺(tái)是一種精密的電子測(cè)試設(shè)備,,主要用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè),、集成電路以及封裝的測(cè)試,。 探針臺(tái)的主要功能是進(jìn)行精密電氣測(cè)量,以確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,,同時(shí)也能縮減研發(fā)時(shí)間和降低制造工藝的成本,。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié),,負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào),使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測(cè)試,,實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量,。
探針臺(tái)通常包括載物臺(tái)、光學(xué)元件,、卡盤,、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分, 此外,,探針臺(tái)也用于網(wǎng)絡(luò)測(cè)量的工具,,可以測(cè)量網(wǎng)絡(luò)的延遲時(shí)間、吞吐量和丟包率等指標(biāo),,從而評(píng)估網(wǎng)絡(luò)的性能和可靠性,。
TC-WAFER晶圓測(cè)溫系統(tǒng)應(yīng)用于高低溫晶圓探針臺(tái),測(cè)量精度可達(dá)mk級(jí)別,,可以多區(qū)測(cè)量晶圓特定位置的溫度真實(shí)值,,也可以精準(zhǔn)描繪晶圓整體的溫度分布情況,還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過程中晶圓發(fā)生的溫度變化,,了解升溫,、降溫以及恒溫過程中設(shè)備的有效性。
智測(cè)電子還提供整個(gè)實(shí)驗(yàn)室過程的有線溫度計(jì)量,,保證溫度傳感器的長(zhǎng)期測(cè)量精度,。
合肥智測(cè)電子致力于高精度溫測(cè)、溫控設(shè)備的生產(chǎn)和研發(fā)定制,,為半導(dǎo)體設(shè)備提供可靠的國產(chǎn)解決方案