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貨物所在地：上海上海市
所在地： 美國(guó)
更新時(shí)間：2024-10-30 21:00:07
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圣賓儀器科技（上海）有限公司是一家專注于分析檢測(cè)行業(yè)的系統(tǒng)性供應(yīng)商,，一直致力于分析測(cè)試技術(shù)方面進(jìn)口儀器的配件耗材供應(yīng)，主要優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷代理品牌：美國(guó)賽默飛世爾（ThermoFisher）原裝配件耗材（比如：ICP光譜,ICP-MS質(zhì)譜,AAS原子吸收光譜, GC-MS氣質(zhì),LC-MS液質(zhì),ARL直讀光譜ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880）,9800/9900X熒光光譜,，同位素質(zhì)譜,，紅外光譜等儀器備件），珀金埃爾默（PerkinElmer）耗材,，美國(guó)安捷倫（Agilent）耗材,，美國(guó)沃特世（Waters）耗材，戴安（DIONEX）色譜耗材,，島津（SHIMADZU）耗材,，瑞士萬(wàn)通（Metrohm），CEM耗材等,。
4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出極
1058129 拔出極
1301684 Suppressor 抑制極
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
環(huán)境掃描電鏡
Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結(jié)合了廣泛的成像和分析模式以及先進(jìn)自動(dòng)化功能,，和同類儀器相比，可提供最完整的解決方案。對(duì)于工業(yè)研發(fā),、質(zhì)量控制和失效分析應(yīng)用領(lǐng)域,，需要一臺(tái)具有高分辨成像，廣泛的樣品兼容性,，簡(jiǎn)單易用的用戶界面的掃描電鏡,，Prisma E是這類應(yīng)用的理想選擇。Prisma E是在前代Quanta SEM基礎(chǔ)上的又一次成功實(shí)踐,。
全面的性能,，強(qiáng)大的附近擴(kuò)展能力，以及結(jié)合Thermo Scientific ChemiSEM 技術(shù)所實(shí)現(xiàn)最直觀的元素分析能力,，使Prisma E在任何行業(yè)或領(lǐng)域都能夠?qū)崿F(xiàn)微米/亞微米級(jí)成像和分析,。
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主要特點(diǎn)
通過(guò)選配 ChemiSEM 技術(shù)和集成能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)成分面分布以實(shí)現(xiàn)直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率,，并獲取最完整的樣品信息,。
靈活的真空模式以及通過(guò)透鏡抽真空技術(shù)，使Prisma E可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質(zhì)量,。且在每個(gè)操作模式下,，都可實(shí)現(xiàn)二級(jí)電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時(shí)成像。
低真空和 ESEM 功能可對(duì)非導(dǎo)電和/或含水樣品進(jìn)行無(wú)電荷/或無(wú)脫水成像和分析,。
憑借 Prisma E 的環(huán)境 (ESEM) 模式,、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態(tài)下直接成像,。
倉(cāng)室支持最多安裝3 個(gè) EDS 探測(cè)器,，其中兩個(gè)EDS接口呈180° 對(duì)稱，并可安裝波長(zhǎng)色散光譜 (WDS),、共面 EDS/EBSD，并可在低真空模式下實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量無(wú)電荷 EDS 和 EBSD 分析,。
易于使用
操作軟件具有用戶指南和撤消功能,，可以使新手用戶進(jìn)行高效的操作，也可極大減少專家級(jí)用戶的操作負(fù)荷,。
規(guī)格
參數(shù) | · 分辨率在高真空,、低真空和 ESEM 的 30 kV 下為 3.0 nm · 在 3 kV（BSED、樣品臺(tái)減速）下為 7.0 nm |
標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器 | · ETD,、低真空 SED (LVD),、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD |
可選檢測(cè)器 | · Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝像機(jī),、DBS,、DBS-GAD、ESEM-GAD、STEM 3+,、WetSTEM,、RGB-CLD、EDS,、EBSD,、WDS、拉曼,、EBIC 等 |
ChemiSEM 技術(shù)（可選） | · 可基于能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)定量 元素面分布,。包含點(diǎn)分析、線掃描,、面分布及元素定量,。 |
樣品臺(tái)減速（可選） | · -4,000 V 至 +50 V |
低真空模式 | · 高達(dá) 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2) |
樣品臺(tái) | · 5軸馬達(dá)優(yōu)中心樣品臺(tái)，110 x 110 mm2,，105° 傾斜范圍,。最大樣品重量：未傾斜位置，5 kg,。 |
標(biāo)準(zhǔn)樣品支架 | · 標(biāo)準(zhǔn)多樣品 SEM 支架可單獨(dú)安裝 · 在載物臺(tái)上,，可容納多達(dá) 18 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品托 (? 12 mm)， · 無(wú)需工具即可安裝樣品 |
樣品倉(cāng) | · 340 mm 內(nèi)寬,，12 個(gè)接口,，最多可接三個(gè) EDS 檢測(cè)器（兩個(gè)呈 180°對(duì)稱），并具有與共面 EDS共面的EBSD接口,。 |
原位配件（可選） | · 軟件控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺(tái) · 軟件控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺(tái) · 軟件控制的 1,100°C 高真空熱臺(tái) · 軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺(tái) · 集成氣體注入系統(tǒng)：用于下列材料的電子束誘導(dǎo)沉積,，最多支持2種氣體（其他配件可能限制可用的注氣系統(tǒng) (GIS) 數(shù)量）： o 鉑 o 鎢 o 碳 · 納米機(jī)械手 · 液氮致冷臺(tái) · 電子探針/多探針臺(tái) |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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