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Veeco D3100 掃描頭 ( AFM Scanner )
掃描范圍:90um*90um
Dimension 3100 SPM使用自動化的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡技術(shù),可用來測量直徑可達(dá)200毫米的半導(dǎo)體硅片,、刻蝕掩膜,、磁介質(zhì)、CD/DVD,、生物材料,、光學(xué)材料和其它樣品的表面特性。它的激光點定位系統(tǒng)和無需工具改變掃描技術(shù)的能力保證了儀器的適用性,、易操作性和高的數(shù)據(jù)處理能力,。
儀器名稱: | Dimension3100原子力顯微鏡 | ![]() | |||
型 號: | Dimension 3100 | ||||
生產(chǎn)廠家: | Veeco | ||||
|
主要用途: |
– 表面形貌、成分分辨 |
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