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TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡
  • TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡

貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-04-30 09:50:32

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TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡是 TESCAN 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡,,配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍,在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現(xiàn)了 SEM 成像和實時元素分析,。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程,,從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案,。

 

TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡,,配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍,在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現(xiàn)了 SEM 成像和實時元素分析,。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程,,從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案,。

TESCAN MIRA 具有創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計,,確保在需要時可以隨時無縫地選擇成像或分析條件,而無需對鏡筒內(nèi)的任何元件重新進行機械對中,;借助*集成的 Essence™ EDS 軟件,,可以快速、輕松地從成像切換到分析操作模式,,一鍵即可實現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改,。

主要特點

ü  *集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺,,可在 Essence™ 軟件的同一個窗口中實現(xiàn) SEM 成像和實時元素分析;

ü  TESCAN *的無光闌光路設(shè)計及實時電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™),,可快速獲得成像和分析條件,;

ü  *的大視野光路(Wide Field Optics™)設(shè)計,可實現(xiàn)最小放大倍率低至2倍,,因而無需額外的光學(xué)導(dǎo)航相機,,即可輕松、精確的對樣品進行導(dǎo)航,;

ü  標(biāo)配的 SingleVac™ 模式,,不導(dǎo)電樣品或電子束敏感樣品無需噴鍍即可在此模式下直接進行觀察;直觀的模塊化 Essence™ 軟件,,無論用戶的經(jīng)驗水平如何,,均可輕松操作;

ü  Essence™ 3D 防碰撞模型,,可確保樣品臺和樣品移動時,,安裝在樣品室內(nèi)探測器的安全性;

ü  可選配的鏡筒內(nèi) SE BSE 探測器,,以及電子束減速技術(shù),,更好的提升了低電壓下的成像性能;

ü  標(biāo)準(zhǔn)分析平臺,,可選配集成最多種類的探測器和附件(如陰極熒光探測器,,水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等)。

中間鏡設(shè)計

MIRA 的鏡筒中增加了一個特殊的透鏡,,使得電子束斑尺寸更小,,進而提升大束流下的分辨率。這個*的透鏡--中間鏡 (Intermediate  Lens™) 結(jié)合電子束追蹤技術(shù)(In-?ight Beam Tracing™),,可確保操作者設(shè)定的束流值與真實作用在樣品上的束流相一致,。這對于需要大束流下進行的分析應(yīng)用如EDS/EBSD/WDS等,以及必須在相同條件下進行重復(fù)實驗或表征的需求尤其重要,。



TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡

更多的探測器和附件

TESCAN MIRA  可以安裝各類附件以滿足特定的應(yīng)用需求,,同時還可以選配鏡筒內(nèi) SE 和BSE 探測器以及電子束減速技術(shù),進一步拓展了 MIRA 的分析能力,,滿足當(dāng)前和未來在亞微米尺度的表征需求,。選配鏡筒內(nèi) SE 和 BSE 探測器后,即可同時獲得包括樣品室內(nèi)SE,、樣品室內(nèi)BSE,、鏡筒內(nèi)SE及鏡筒內(nèi)BSE的4種不同襯度信號,。電子束減速技術(shù)則可提升其成像能力,,尤其是在低電壓下的分辨率,。



TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡

全新的 EssenceTM 電鏡控制軟件

采用 TESCAN Essence™ 多用戶電鏡操作軟件,具有快速搜索,、操作步驟撤銷/重做和預(yù)設(shè)參數(shù)等功能,,實現(xiàn)更高效的樣品分析和表征。用戶可以根據(jù)實際操作水平或特殊應(yīng)用需求的不同在軟件中自定義界面布局,。另外,,Essence™ 防碰撞模型軟件虛擬出樣品室內(nèi)部,直觀的顯示樣品室內(nèi)的所有硬件的幾何關(guān)系,,樣品臺的大小和位置,,以及樣品和安裝的其它附件。



創(chuàng)新的 SingleVac TM 模式

SingleVac™ 模式是 TESCAN MIRA 的標(biāo)配功能,,TESCAN 已為此模式預(yù)設(shè)了真空值,,荷電樣品無需噴鍍也可以使用背散射電子探測器直接觀察。同時還可以選配 UniVac™ 模式,,該模式下可連續(xù)調(diào)節(jié)真空度至 700 Pa,,用于放電、放氣及電子束敏感樣品的二次電子和背散射電子成像,。


軟件:

·         測量軟件, 公差測量軟件

·         圖像處理

·         預(yù)設(shè)參數(shù)

·         直方圖及LUT

·         SharkSEM™ 基礎(chǔ)版 (遠程控制)

·         3D 防碰撞模型軟件

·         對象區(qū)域

·         光電聯(lián)用

·         定時關(guān)機

·         CORAL™(用于生命科學(xué)的電鏡模塊)

·         自動拼圖軟件

·         樣品觀察

·         TESCAN Flow™ (離線處理軟件)

根據(jù)實際配置和需求


 

 

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