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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> 布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200
布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200融合了高級(jí)表征,、可定制選項(xiàng)和易用性,,可提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法,。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),,配置了大視場(chǎng)的5百萬(wàn)像素?cái)z像頭和新型電動(dòng)XY載物臺(tái),可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。
ContourX-200還配有業(yè)界先進(jìn)的操作和分析軟件Vision64,。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能,,可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,,薄膜,,半導(dǎo)體,眼科,,醫(yī)療設(shè)備,,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析。
布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-200
測(cè)量與分析功能
·易于使用的界面,,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果
·自動(dòng)化功能用于日常測(cè)量和分析
·*泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),,用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析
·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告
先進(jìn)計(jì)量設(shè)備
·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲,、快速,、精度的準(zhǔn)確結(jié)果。
·通過使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識(shí)別功能,,設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征,,可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。
·ContourX-200對(duì)于反射率從0.05%到100%的各種表面都非常易于測(cè)量,。
高性能表面計(jì)量
·放大倍率無(wú)關(guān)的Z軸分辨率
·大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng)
·穩(wěn)定集成防震設(shè)計(jì)
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