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一、武漢電子電機溫度循環(huán)沖擊測試試驗箱主要技術配置

1,、制冷系統(tǒng)：德國谷輪半封閉壓縮機組,，水冷式；其余主要制冷配件均為優(yōu)質進口件,。

2,、加熱系統(tǒng)：不銹鋼加熱管，帶散熱鋁翅片,。

3,、鈑金結構：采用SUS304全不銹鋼制作。

4,、加熱功率：28KW,；

5、控制系統(tǒng)：采用日本OYO觸摸屏程序溫度控制器,，其余主要電器均采用優(yōu)質進口件,。

6、運行方式：程序運行

7,、鈑金：內箱材質：鏡面不銹鋼板（SUS304,，1.0mm厚）,，外箱材質: 不銹鋼（1.0mm厚）。
8,、保溫材質:高溫槽: 24k玻璃棉,，低溫槽: 聚胺脂硬質發(fā)泡+玻璃棉。
9,、加熱器:鰭片式散熱管鎳鉻合金U型高效加熱器,，自動演算高精確PID+SSR控制（演算周期：1～4S可設），使其熱損耗量與加熱量相當,，故比傳統(tǒng)ON/OFF控制省電約30%,。
10、送風循環(huán)系統(tǒng):臺制馬達2臺,，附不銹鋼加長軸心,；多翼式扇葉（SIROCCO FAN）；臺制離心排風機一臺,。
11,、溫度沖擊執(zhí)行機構:采用中國臺灣壓德克全套*氣動組件。
12,、冷凍系統(tǒng)：壓 縮 機:法國泰康壓縮機2臺,，冷 凝 器:水冷殼管式冷凝器,，冷卻方式：風冷/水冷,。
13、控制系統(tǒng)：韓國TIME880或日本OYO8226,，微電腦大型彩色液晶顯示觸控式控制器,，中英文顯示控制系統(tǒng)。具有RS-232通訊界面及連接軟件,，可于電腦熒幕上設計程序,、收集測試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行,、可實現(xiàn)遠程控制,。
14、控制方式與特色︰利用低溫及高溫蓄冷蓄熱儲存槽,，依動作需要打開DAPER,，達到快速沖擊效果；平衡調溫控制系統(tǒng)（BTC）,，以P.I.D.方式控制SSR,，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用,。

二,、武漢電子電機溫度循環(huán)沖擊測試試驗箱結構特點

1,、全部功能采用計算機控制，系自主開發(fā)的軟件,，有良好的操作界面,，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態(tài)下,，
2,、可以臨時更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設置時間的參數(shù),，使制冷,、加熱、提藍傳送切換,，按設定值自動進行,。
3、冷箱,、熱箱獨立控制,，箱門互相獨立，擴大試驗箱的使用范圍（一箱三用）,。
4,、產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。
5,、試驗箱門與循環(huán)風機,，提藍傳動等互鎖，保護操作者的安全,，一旦打開箱門,，循環(huán)風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。
6,、在箱頂有標準引線孔管,，方便用戶向箱內引入傳感器線，檢測電纜等類型引線,。
三,、工作原理

1、低溫儲存箱：箱內溫度狀態(tài)由風道中的加熱器,、蒸發(fā)器以及風機的工作狀態(tài)決定,。經(jīng)過膨脹閥節(jié)流流出的制冷劑進入工作室內蒸發(fā)器后，吸收工作室內熱量并氣化,，使工作室溫度降低,；氣化后的工質被壓縮機吸入并壓縮成高溫、高壓氣體進入冷凝器中被冷凝成液體，再經(jīng)篩檢程式,，zui后通過膨脹閥節(jié)流后,，重新又進入工作室內蒸發(fā)器中吸熱并氣化然后再被壓縮機吸入壓縮。如此往復回圈工作,，使工作室溫度降到設置的溫度要求

2,、高溫儲存箱：*控制器從感溫元件檢測即時信號，與設定溫度信號進行比較,，得到比較信號,，由儀表PID邏輯電路輸出信號控制固態(tài)繼電器的導通或關斷的時間比例調節(jié)加熱器輸出功率大小，從而達到自動控溫的目的,。

3,、沖擊溫度測試箱：由儀表自動控制高低溫氣閥，在低溫或高溫儲存室之間切換,，分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng),，迅速達到試驗的目標溫度。試驗箱內溫度狀態(tài)由風道中的加熱器,、蒸發(fā)器,、及風機的工作狀態(tài)決定。試驗箱工作室內采用強制軸流“散性”式回圈風工作,，可以大大提高設備運行的波動度,、均勻度等參數(shù)。

四,、用途

  主要用于測試零部件,、材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,，藉以在zui短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害,。

  該產(chǎn)品即適用于質量控制的實驗室,，確定電工電子產(chǎn)品在貯存,、運輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應性，又可滿足生產(chǎn)過程中篩選商用和產(chǎn)品,。適用的對象包括金屬,，塑料，橡膠,，電子,、LED、LCD,、通訊組件,、汽車配件、化學材料、航天,、國防工業(yè),、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料等行業(yè),，可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考,。

五、執(zhí)行與滿足標準

1,、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法,；
2、GB/T2423.2-2001,；
3,、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N；
4,、GJB150.3-86,；
5、GJB150.4-86,；
6,、GJB150.5-86；
7,、GJB150.5-86溫度沖擊試驗,；
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗,；
9,、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗；
10,、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱—一箱式,；
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱—二箱式,；
12,、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；
13,、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則,；
14、GB/T 2423.22-2002溫度變化,；
15,、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則；
16,、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估,。