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西安高低溫沖擊試驗(yàn)箱廠家
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
西安高低溫沖擊試驗(yàn)箱廠家 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù)
| 型號(hào) | CTS-50 | CTS-120 | CTS-180 | ||||||
| 性 能 參 數(shù) | 高溫室 | 溫度暴露范圍 | +60～＋200℃ | ||||||
| 預(yù)熱溫度上限 | 200℃ | ||||||||
| 升溫時(shí)間 | R.T.→＋200℃約40min | ||||||||
| 低溫室 | 溫度暴露范圍 | 0～-75℃ | |||||||
| 預(yù)冷溫度下限 | -75℃ | ||||||||
| 降溫時(shí)間 | R.T.→-70℃約60min | ||||||||
| 提籃 | 溫度范圍 | -65～150℃ | |||||||
| 溫度波動(dòng)度 | ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） | ||||||||
| 溫度偏差 | ≤±2℃（-65℃～+150℃） | ||||||||
| 轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤5S | ||||||||
| 溫度回復(fù)時(shí)間 | ≤5min | ||||||||
| 溫 度 回 復(fù) 條 件 | CTS-50 | 條件一 | 高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃,，暴露時(shí)間30min,，樣品重量5Kg鋁 | ||||||
| 條件二 | 高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃,，暴露時(shí)間30min,樣品重量10Kg鋁 | ||||||||
| CTS-120 | 條件一 | 高溫暴露+150℃低溫暴露-65℃暴露時(shí)間30min,，樣品重量10Kg鋁 | |||||||
| 條件二 | 高溫暴露120℃，低溫暴露-40℃,，暴露時(shí)間30min,樣品重量30Kg鋁 | ||||||||
| CTS-180 | 條件一 | 高溫暴露+150℃,低溫暴露-65℃暴露時(shí)間30min樣品重量15Kg鋁 | |||||||
| 條件二 | 高溫暴露120℃,，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min,樣品重量30Kg鋁 | ||||||||
| 結(jié) 構(gòu) | 外殼 | 冷軋鋼板表面噴塑（象牙白） | |||||||
| 內(nèi)膽 | 不銹鋼板 | ||||||||
| 隔熱材料 | 聚氨酯發(fā)泡+超細(xì)玻璃棉 | ||||||||
| 制 冷 | 制冷方式 | 風(fēng)冷 | 水冷 | ||||||
| 制冷機(jī) | 進(jìn)口壓縮機(jī) | ||||||||
| 溫度傳感器 | 鎧裝鉑電阻 | ||||||||
| 控制器 | 西門(mén)子PLC模塊+7英寸彩色液晶觸摸控制屏 ,。 | ||||||||
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與功能接口 | 本機(jī)SD數(shù)據(jù)卡RS485接口,、USB接口 | ||||||||
| 提籃尺寸(mm) | D | 300 | 500 | 600 | |||||
| W | 460 | 610 | 660 | ||||||
| H | 350 | 400 | 450 | ||||||
| 外部尺寸(mm) | D | 2250 | 2720 | 2920 | |||||
| W* | 1200 | 1050 | 1100 | ||||||
| H | 1950 | 1950 | 2150 | ||||||
| 裝機(jī)功率（KW） | 19.7KVA | 32KVA | 36KVA | ||||||
| 電源 | AC380V 50Hz三相四線制+接地線 | ||||||||
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)1份,、試驗(yàn)報(bào)告1份、合格證及質(zhì)量保證書(shū)各1份,、打印紙5只,、擱板2層、色帶 1只,、帶腳輪,。 | ||||||||
| 滿足標(biāo)準(zhǔn) | GJB 150.3、GJB 150.4,、GJB150.5、GB/T 2423.1,、GB/T 2423.2 | ||||||||
溫度沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)解讀
熱沖擊試驗(yàn)（Thermal Shock Testing）常被稱(chēng)作溫度沖擊試驗(yàn)（Temperature Shock Testing）或者溫度循環(huán)（Temperature Cycling）,、高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)。
溫度沖擊按照GJB 150.5A-2009 3.1的說(shuō)法,，是裝備周?chē)髿鉁囟鹊募眲∽兓?，溫度變化率大?0度/min，即為溫度沖擊,。MIL-STD-810F 503.4(2001)持相類(lèi)似的觀點(diǎn),。
個(gè)人認(rèn)為不能因此理解為大于這個(gè)速率的試驗(yàn)就是溫度沖擊試驗(yàn)。溫度沖擊試驗(yàn)的速率比這個(gè)情況要嚴(yán)苛,。經(jīng)常能聽(tīng)到說(shuō)溫度沖擊的速率大于20度/min,30度/min,50度/分鐘,，甚至更快。
溫度變化原因有很多,，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)里面都有提及：
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)N:溫度變化
3 溫度變化的現(xiàn)場(chǎng)條件
電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍,。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢,。
下列情況下,，可預(yù)見(jiàn)快速的溫度變化：
——當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí),；
——當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí),；
——安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中；
——在某些運(yùn)輸和貯存條件下,。
通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度,，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力,，例如,，在大功率的電阻器旁邊，輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高,，而其他部分仍然是冷的,。
當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí),，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過(guò)程中同樣可引起元器件的快速溫度變化,。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的,。
GJB 150.5A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
3.2應(yīng)用
3.2.1正常環(huán)境
本試驗(yàn)適用于可能會(huì)在空氣溫度發(fā)生急劇變化的地方使用的裝備。本試驗(yàn)僅用來(lái)評(píng)價(jià)溫度急劇變化對(duì)裝備的外表面,、安裝在外表面的零部件,、或裝在靠近外表面的內(nèi)部零部件的影響。典型情況如下：
A) 裝備在熱區(qū)域和低溫環(huán)境之間轉(zhuǎn)換,；
B) 通過(guò)高性能運(yùn)載工具,，從地面高溫環(huán)境升到高空（只是熱到冷）；
C) 僅用外部材料（包裝或裝備表面材料）進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),，從處在高空和低溫條件下熱的飛機(jī)防護(hù)殼體內(nèi)向外空投,。
3.2.2安全性和環(huán)境應(yīng)力篩選
除3.3所述外，本試驗(yàn)適用于提示裝備暴露在低于溫度變化速率（只要試驗(yàn)條件下不超過(guò)裝備的設(shè)計(jì)極限）下通常出現(xiàn)的安全性問(wèn)題和潛在的缺陷,。本試驗(yàn)雖然用作環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）,，但經(jīng)適當(dāng)工程處理后，也可以將其作為一個(gè)篩選試驗(yàn)（使用更溫度的溫度沖擊）,，用來(lái)揭示裝備暴露在低于溫度條件下會(huì)出現(xiàn)的潛在缺陷,。