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EPK Mikro Test G6涂鍍層測厚儀測試結(jié)果受哪些因素影響
閱讀：1491 發(fā)布時(shí)間：2020-11-27Mikro Test G6涂鍍層測厚儀測試結(jié)果受哪些因素影響
德國EPK Mikro Test G涂鍍層測厚儀是一款機(jī)械式涂鍍層測厚儀,，指針刻度盤,，量程0-100um,，精度±1um或5%讀值，自動(dòng)操作,，自上市七十多年以來,，由于工藝技術(shù)及精度等方面，具有磁性覆層測厚儀的,，使得G6非常,。不過大部分使用者對(duì)MikroTest G6在操作過程中如何規(guī)范使用儀器，并不是很清楚,。本文將詳細(xì)介紹：
1.保證測厚儀遠(yuǎn)離磁鐵或電磁鐵,，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場、強(qiáng)電場,；
2.測厚儀節(jié)勿猛烈碰撞,；
3.測厚儀用完后將指輪逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，停在滿刻度附近后再放入手提箱,；
4.盡管 Mikrotest 測厚儀非常結(jié)實(shí),，也要象使用其它精密儀器一樣，小心加以愛護(hù)
德國EPK Mikro Test G6涂鍍層測厚儀,，又稱為G6涂層測厚儀,，EPK MiKro test G6膜厚儀，符合DIN EN ISO2178,、DIN50982,、ASTM B499、E376,、D1188,、G12、B530,、BS5411,、ISO2361標(biāo)準(zhǔn),。
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德國EPK Mikro Test G6涂鍍層測厚儀測量結(jié)果受哪些因素影響：
1.鋼鐵基體的磁特性
磁性測厚儀受基體金屬導(dǎo)磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮,，高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會(huì)使讀值偏高,。
2.基體金屬厚度
該儀器有一個(gè)基體小臨界厚度值。型號(hào)不同,，則該臨界厚度不同,。請(qǐng)參考技術(shù)說明指標(biāo)表（表1）。若厚度超過這一小臨界厚度值,，測量值不會(huì)受到影響,；反之，則造成讀值偏高,。
3.邊緣效應(yīng)
該測量方法對(duì)被測體邊界,、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感,。因此,，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。所以,，技術(shù)說明指標(biāo)指出了小測量面積。必須要測量這種場合時(shí),，一定要經(jīng)過校準(zhǔn),。
4.曲率
被測量件的曲率對(duì)測量有影響，一般凸面造成測值偏大,，凹面則偏小,。盡管儀器在設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)這方面有所補(bǔ)償。
5.覆蓋層的厚度
測厚精度隨覆層厚度變化面變化,。對(duì)于薄的覆層,，其測量精度是一個(gè)常數(shù)，與覆層厚度無關(guān),；對(duì)于厚度的覆層,，其精度與覆層厚度近似成正比。
6.剩磁
基體金屬的剩磁對(duì) Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會(huì)有影響,。
7.磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會(huì)嚴(yán)重影響儀器工作,。
8.地球重力
Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對(duì)于地球重力方向影響。
德國EPK涂層測厚儀G6-技術(shù)參數(shù)：
型 號(hào) | 測量范圍 | 讀值精度 | 小測量區(qū) 直徑 | 小半徑 凸 凹 mm mm | 基體小 厚度mm | 適合用于 |
MIKROTEST G 6 | 0－100μm | 1μm或5％讀值 | 20mm | 5 25 | 0.5 | 鋼,、鐵上電鍍層,、漆、搪瓷,、塑料,、橡膠層 |
簡測實(shí)業(yè)是德國EPK代理商,，有Minitest 600系列、Minitest 2500系列,、Minitest 725系列,、Minitest 735系列、Minitest 745系列等,。備有現(xiàn)貨,，歡迎咨詢