Complete SS-OCT測(cè)試系統(tǒng)IVS-4000-ST可廣泛應(yīng)用于研發(fā),、可行性研究和產(chǎn)品開發(fā)等,。該系統(tǒng)根據(jù)客戶的不同需求配置Santec的不同規(guī)格的掃頻光源,、訂做的干涉計(jì)和探頭,。硬件,、軟件可以根據(jù)客戶的需求來訂做,，軟件方面可以提供 LabVIEW®的程序代碼,，或者SDK,。

Santec的Complete SS-OCT測(cè)試系統(tǒng)IVS-4000-ST，我們可以*根據(jù)客戶的需求來訂做,，可廣泛應(yīng)用于研發(fā),、可行性研究和產(chǎn)品開發(fā)等。該系統(tǒng)根據(jù)客戶的不同需求配置Santec的不同規(guī)格的掃頻光源,、訂做的干涉計(jì)和探頭,。硬件、軟件可以根據(jù)客戶的需求來訂做,，軟件方面可以提供 LabVIEW®的程序代碼,，或者SDK。

應(yīng)用

• 工業(yè)非侵入式檢測(cè) 薄膜厚度（表面保護(hù)膜,、涂層等）
• 瑕疵檢測(cè)（合成樹脂,、塑料,、半導(dǎo)體、涂層 等）
• 生物&醫(yī)學(xué)顯微檢測(cè)

特征

• 非接觸,、非破壞,、非侵入測(cè)量
• 高達(dá)30fps 實(shí)時(shí)、成像
• 1D&2D&3D的成像功能
• 檢測(cè)數(shù)據(jù)的連續(xù)保存功能
• 掃描角度可以自由設(shè)定
• OCT圖像數(shù)據(jù),、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的輸入,、輸出
• 根據(jù)客戶的要求定制硬件、軟件 （option）
• LabVIEW（VI文件,，源代碼程序 （option）
• 多普勒&偏光OCT（option）

  IVS-1000/2000/4000 line-up

  Model No.	Center Wavelength	Features	Details
  Complete SS-OCT測(cè)試系統(tǒng)IVS-4000-ST	1700nm	Low Scatter	MEMS type
  IVS-2000-ST	1310nm	General and In-line Inspection	Polygon scanner type
  IVS-2000-HR	1310nm	High Resolution	Polygon scanner type
  IVS-2000-LC	1310nm	Long imaging range	MEMS type
  IVS-2000-HS	1310nm	High Speed :100kHz A-line	MEMS type
  IVS-1000-VCSEL	1060nm	Tunable VCSEL	Tunable VCSEL

  系統(tǒng)構(gòu)成

  If you are interested in the lasers for SS-OCT