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美國Gamry電化學(xué)

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Gamry電化學(xué)工作站校正數(shù)據(jù)解析

閱讀:6278      發(fā)布時(shí)間:2017-3-7
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目的

本技術(shù)說明旨在幫助用戶更好地理解Gamry電化學(xué)工作站的校正過程與數(shù)據(jù),一般只需簡單看一看,,即可判斷是來自儀器內(nèi)在的問題,,還是由外部因素所引起。

 

介紹

要獲取可重復(fù)的準(zhǔn)確數(shù)據(jù),,必須對(duì)您的Gamry電化學(xué)工作站進(jìn)行適當(dāng)?shù)男U?,這個(gè)診斷測(cè)試能夠幫助用戶判斷儀器是否存在問題,是故障排除的*步,。

通常自檢都沒有問題,,但有時(shí),會(huì)有個(gè)別項(xiàng)目不能通過,,這篇技術(shù)說明能夠幫助您正確解析校正結(jié)果數(shù)據(jù),,從而決定下一步操作。

Gamry Interface系列和Reference系列電化學(xué)工作站的自我校正,,結(jié)果基本上類似,。

 

實(shí)驗(yàn)室條件

當(dāng)運(yùn)行Gamry電化學(xué)工作站校正時(shí),,請(qǐng)首先確認(rèn)儀器已經(jīng)正確接地和預(yù)熱,另外,,電解池是否已經(jīng)放置于法拉第屏蔽箱中(防止雜散電磁場(chǎng)的干擾),。如果不滿足上述條件,可能會(huì)由于這些外部問題而導(dǎo)致儀器校正失敗,,這不是儀器內(nèi)部電路原因造成的,。

 

放棄、重做還是忽略,?

當(dāng)校正過程中某個(gè)項(xiàng)目不能通過時(shí),,會(huì)顯示提示信息“Abort, Retry, or Ignore?”一般來說,,我們建議您點(diǎn)擊“Ignore”繼續(xù)進(jìn)行校正,,這樣儀器將會(huì)保存校正報(bào)告,方便過后進(jìn)行分析,。

 

通道補(bǔ)償

Gamry電化學(xué)工作站自我校正的*步是檢查通道補(bǔ)償,。

這一步測(cè)試一般都能正常通過,如果失敗,,意味著電化學(xué)工作站本身出了問題,。因此,如果“Ich Channel Offset”或者“Vch Channel Offset”測(cè)試顯示不通過,,您需要將儀器寄給我們上海辦公室作進(jìn)一步測(cè)試和分析,。

 

Esig衰減補(bǔ)償

檢查電壓信號(hào)的Esig衰減測(cè)試,僅與Reference系列相關(guān),,如果這項(xiàng)測(cè)試失敗,,則可能是電極線纜出了問題。換一根同樣的線再測(cè),,看看是否能順利通過,。如果仍未通過,請(qǐng),。

 

IE補(bǔ)償

Reference系列電化學(xué)工作站

對(duì)于Reference系列電化學(xué)工作站,,如果前四個(gè)“IE Offsets”測(cè)試不通過,這未必是什么重大問題,。Reference系列電化學(xué)工作站非常靈敏,,附近小的雜散放電(低至皮安級(jí)的電流),或者甚至儀器內(nèi)部電路板附近濕度上升,,都可能引起系統(tǒng)噪聲,。確認(rèn)實(shí)驗(yàn)室條件符合要求(預(yù)熱、電解池置于法拉第箱中,、接地),,再次進(jìn)行校正,。如果測(cè)試幾次,仍不能通過,,請(qǐng)保存好校正報(bào)告,,然后Gamry。

以下是Reference 3000受到系統(tǒng)雜散電壓干擾的例子,。未通過的項(xiàng)目標(biāo)記為紅色,。請(qǐng)注意,在低量程時(shí)未通過測(cè)試,,而隨著量程不斷提高,,越來越接近儀器要求的誤差范圍。再次運(yùn)行校正程序后,,測(cè)試通過,。

IE Offset [0]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [1]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [2]:  -2.499907 (+/-0.1530099) - FAILED

IE Offset [3]:  -0.3623838  (+/-0.0180118) - FAILED

IE Offset [4]:  -0.0360763  (+/-0.0044999) - FAILED

IE Offset [5]:  -0.0031543  (+/-0.00315) - FAILED

IE Offset [6]:  -0.0001412  (+/-0.003015) - PASSED

IE Offset [7]:  0.000234  (+/-0.0030015) - PASSED

IE Offset [8]:  0.000261  (+/-0.0030001) - PASSED

IE Offset [9]:  0.000876  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [10]:  0.0006043  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [11]:  0.0006585  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [12]:  0.0005845  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [13]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [14]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [15]:  0  (+/-0.003) - PASSED

Interface系列電化學(xué)工作站

對(duì)于 Interface系列電化學(xué)工作站,如果前面兩個(gè)IE Offsets沒通過,,這不一定是儀器出了問題,。低量程可能是對(duì)附近偶然的雜散放電作出的響應(yīng)。再次運(yùn)行測(cè)試,,如果仍不通過,,請(qǐng)Gamry。

 

所有Gamry電化學(xué)工作站適用

誤差范圍可能會(huì)比較容易混淆,。測(cè)試報(bào)告顯示允許的誤差范圍是±0.003 V,,但對(duì)于儀器校正,可以將IE Offset調(diào)整到±0.005 V,。因此,,當(dāng)誤差達(dá)到5 mV時(shí),即使被標(biāo)記為“FAILED”,,電化學(xué)工作站仍然是可以正常使用的。IE Offset 測(cè)試中,,±0.005 V的誤差并不會(huì)影響系統(tǒng)的性能,。如果誤差超過±0.005 V,IE Offset 測(cè)試失敗,,請(qǐng)Gamry,。

以下是某臺(tái)Reference 600的校正數(shù)據(jù),偏差在5 mV以內(nèi)(標(biāo)記為紅色),,超過了要求的3 mV,,儀器仍可以正常使用。

IE Offset [0]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [1]:  0.1395359  (+/-0.5029737) - PASSED

IE Offset [2]:  0.0125915  (+/-0.0529929) - PASSED

IE Offset [3]:  -0.0009198  (+/-0.0079992) - PASSED

IE Offset [4]:  -0.0029896  (+/-0.0035) - PASSED

IE Offset [5]:  -0.0034733  (+/-0.00305) - FAILED

IE Offset [6]:  -0.0033375  (+/-0.003005) - FAILED

IE Offset [7]:  -0.0033915  (+/-0.0030005) - FAILED

IE Offset [8]:  -0.0040573  (+/-0.0030001) - FAILED

IE Offset [9]:  -0.0030547  (+/-0.003) - FAILED

IE Offset [10]:  -0.0030556  (+/-0.003) - FAILED

IE Offset [11]:  -0.0030545  (+/-0.003) - FAILED

IE Offset [12]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [13]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [14]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [15]:  0  (+/-0.003) - PASSED

 

靜電計(jì)(EL)補(bǔ)償

靜電計(jì)(EL)補(bǔ)償測(cè)試也常常引起混淆,。測(cè)試報(bào)告顯示的允許誤差范圍是±0.003 V,,但對(duì)于儀器校正可以放寬到±0.005 V,。因此,如果誤差不超過5 mV,,即使被標(biāo)記為“FAILED”,,電化學(xué)工作站仍然可以正常使用,±0.005 V誤差并不會(huì)影響系統(tǒng)性能,。如果靜電計(jì)補(bǔ)償(EL Offset)測(cè)試失敗,,并且誤差超過±0.005 V,請(qǐng)Gamry,。

 

Pstat Control Offset, Scan DAC Offset, ZRA Scan Offset, Pstat Bias DAC Offset, DDS Offset, 以及 Positive Feedback Offset

這些不同的測(cè)試, 適合于Gamry Interface系列和Reference系列電化學(xué)工作站,。如果其中一項(xiàng)或多項(xiàng)不能通過,可能是電極線纜的問題,,嘗試換用一根同樣類型的線,,再次運(yùn)行校正程序。

如果其中一項(xiàng)不能通過,,但所有Applied DC測(cè)試都能通過情況下(參考下面的數(shù)據(jù)),,可能是電化學(xué)工作站內(nèi)部的問題,請(qǐng)Gamry,,獲取幫助,。

 

Applied DC測(cè)試

如果Applied DC測(cè)試不通過,但前面提到的測(cè)試均能通過的情況下,,可能是電極線纜出了問題,。換用一根同樣的線再測(cè)試。

以下是狀態(tài)正常的Reference 3000,,使用一根有問題的電極線進(jìn)行校正的情況,,未通過的項(xiàng)目標(biāo)記為紅色。

Pstat Control Offset [0]:7.540061E-006(+/-0.008)- PASSED

Scan DAC Offset [0]:  6.794175E-006  (+/-0.008) - PASSED

Scan DAC Offset [1]:  9.42243E-007  (+/-0.008) - PASSED

Scan DAC Offset [2]:  1.817607E-008  (+/-0.008) - PASSED

ZRA Scan Offset [0]:  0.0001081  (+/-0.008) - PASSED

ZRA Scan Offset [1]:  0.000112  (+/-0.008) - PASSED

ZRA Scan Offset [2]:  0.000115  (+/-0.008) - PASSED

Pstat Bias DAC Offset [0]: 8.403379E-006  (+/-0.008)-PASSED

Positive Feedback Offset [0]: 2.085462E-005 (+/-0.005) -PASSED

APPLIED DC PSTAT: 9.053656E-008 (0.0005 +/- 10%) - FAILED

APPLIED DC PSTAT: 1.424587E-008 (-0.0005 +/- 10%) - FAILED

APPLIED DC GSTAT:  -3.99024E-005  (-1 +/- 10%) - FAILED

APPLIED DC GSTAT:  -3.892947E-006  (1 +/- 10%) - FAILED

如果Applied DC測(cè)試與之前提到的測(cè)試都無法通過,,請(qǐng)Gamry,,獲取幫助。

 

Summary總結(jié)

本技術(shù)說明詳細(xì)描述了各種自我校正測(cè)試項(xiàng)目,,以及怎樣快速判斷是否來自電化學(xué)工作站內(nèi)部的問題,,還是電極線纜的問題。同樣,,如果您對(duì)Gamry設(shè)備的操作有任何問題,,都可以。

 

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