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你知道有幾種方式可以對(duì)光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行檢測(cè)嗎,？
光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器具有先進(jìn)水平的光阻與角散射結(jié)合的顆粒計(jì)數(shù)器,。由于大顆粒對(duì)光的遮擋作用較強(qiáng)，所以光阻法主要用來(lái)測(cè)試40-400μm的較粗和粗顆粒,；由于細(xì)顆粒對(duì)光的散射作用較強(qiáng),，所以角散射法主要用來(lái)測(cè)試0.5-40μm的細(xì)顆粒。兩種測(cè)試方式相互結(jié)合,，相互印證,，拓展了儀器測(cè)量范圍同時(shí)也確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性。光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器具有激光照明光學(xué)傳感器,，通過(guò)使用固態(tài)傳感器捕獲來(lái)自每個(gè)粒子的散射光,，允許對(duì)單個(gè)粒子進(jìn)行采樣。你知道有幾種方式可以對(duì)光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行檢測(cè)嗎,？
光散射：
光散射是指光線通過(guò)不均勻的介質(zhì)而偏離其原來(lái)的傳播方向并散開(kāi)到所有方向的現(xiàn)象,。產(chǎn)生散射光,，顆粒大時(shí)散射光信號(hào)強(qiáng)，散射光光強(qiáng)與顆粒粒徑成正比,。
優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,，可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量。
缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大,，儀器造價(jià)較高,。
動(dòng)態(tài)圖像法：
由顯微鏡、高速攝像機(jī),、樣品分散系統(tǒng),、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。
優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰,，操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快,、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,，可干法也可濕法，可測(cè)量最大顆粒,，可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析。
缺 點(diǎn)：分析細(xì)顆粒(如-2 μm )圖像不清晰,，誤差較大,，成本較高。
靜態(tài)圖像法(顯微鏡法)：
由顯微鏡,、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成,。
優(yōu)點(diǎn)：成本較低，操作簡(jiǎn)單,，圖像清晰,、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析,。
缺點(diǎn)：分析速度慢,，無(wú)法分析細(xì) 顆粒(如-2 μm )。
電鏡法：用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像,，然后再進(jìn)行圖像 分析的方法,。
優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒，圖像清晰,，表面紋理可見(jiàn),，分辨率高,，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。
缺點(diǎn)：?jiǎn)畏鶊D像中的顆粒數(shù)少,、代表性差,、儀器價(jià)格昂貴。
光阻法：
當(dāng)液體中的微粒通過(guò)一窄小的檢測(cè)區(qū)時(shí),，與液體流向垂直的入射光,，由于被不溶性微粒所阻擋，從而使傳感器輸出信號(hào)變化,，這種信號(hào)變化與微粒的截面積成正比,，光阻法檢查注射液中不溶性微粒即依據(jù)此原理。
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快,，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù),，分辨力高，樣品用量少,。
缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,，不適用粒徑<1μm 的樣品。
電阻法：
電阻法(庫(kù)爾特)顆粒計(jì)數(shù)器粒度測(cè)量原理是小孔電阻原理,。小孔管浸泡在電解液中,，小孔管內(nèi)外各有一個(gè)電極，電流通過(guò)孔管壁上的小圓孔從陽(yáng)極流到陰極,。小孔管內(nèi)部處于負(fù)壓狀態(tài),，因此管外的液體將流動(dòng)到管內(nèi)。測(cè)量時(shí)將顆粒分散到液體中,，顆粒就跟著液體一起流動(dòng),。當(dāng)其經(jīng)過(guò)小孔時(shí)，小孔的橫截面積變小,，兩電極之間的電阻增大,，電壓升高，產(chǎn)生一個(gè)電壓脈沖,。當(dāng)電源是恒流源時(shí),，可以證明在一定的范圍內(nèi)脈沖的峰值正比于顆粒體積。儀器只要測(cè)出每一個(gè)脈沖的峰值,，即可得出各顆粒的大小,，由各脈沖值即可統(tǒng)計(jì)出粒度的分布。
優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，可測(cè)顆粒數(shù),，等效概念明確，速度快,，準(zhǔn)確性好,。
缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品,，更換小孔管比較麻煩。
沉降法：
沉降法是指粒度分析(settlinganalysis)通過(guò)檢測(cè)物料顆粒在介質(zhì)中的沉降速度進(jìn)行物料粒度分析,，確定其粒度組成的技術(shù),。
優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行,，價(jià)格較低,，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大,。
缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),，操作較復(fù)雜，結(jié)果易受環(huán)境因素影響,。
篩分法：
將解散后的碎屑顆粒倒人一套孔徑不同的標(biāo)準(zhǔn)篩中,，通過(guò)充分振篩，將不同粒級(jí)的碎屑顆粒充分分開(kāi),，稱量各粒級(jí)碎屑顆粒質(zhì)量,，求得碎屑顆粒的粒度分布范圍。
優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單,、直觀,、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于 38 μm (400 目)的樣品,。
缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品,；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大,。
動(dòng)態(tài)光散射法：
動(dòng)態(tài)光散射法是測(cè)試納米材料粒度分布的常用方法,。首先將納米顆粒放到合適的液體(通常為純凈水)中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運(yùn)動(dòng)(布朗運(yùn)動(dòng))的碰撞而進(jìn)行不規(guī)則運(yùn)動(dòng),。當(dāng)一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時(shí),，會(huì)在引起的散射光強(qiáng)的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號(hào)的幅度,、頻率等特征與顆粒大小有關(guān),，對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。.
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試范圍寬(從納米到微米),、測(cè)試速度快,，重復(fù)性好，操作簡(jiǎn)便,。缺點(diǎn)：測(cè)試寬分布的納米材料誤差及較大,。