顆粒的物理性質(zhì)測試對于很多行業(yè)都具有重要意義,，顆粒的粒徑分布與球形度、長徑比等外形分布數(shù)據(jù)都是經(jīng)常需要用到的物理參數(shù),。

靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備采用圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,，將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時,，將顆粒的粒度,、球型度、長徑比,、龐大率,、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細的了解顆粒,。

動態(tài)顆粒圖像分析儀借助于500萬像素的工業(yè)級雙向遠心鏡頭以及強大的分析軟件,，可快速對待測顆粒進行粒形分析，可以同時測量顆粒的粒度粒形參數(shù),并且具有采樣量大,無取向誤差,顆粒無粘連重疊等特點,，廣泛應用于質(zhì)量控制,、研發(fā)部門以及實驗室，可替換篩分分析,。

靜態(tài)圖像法（顯微鏡法）：由顯微鏡,、攝像機和圖像分析軟件組成。

優(yōu)點：成本較低,，操作簡單,，圖像清晰、可進行圓形度,、長徑比等形貌分析,。

缺點：分析速度慢，無法分析細 顆粒（如-2 μm ）,。
 

動態(tài)圖像法：由顯微鏡,、高速攝像機、樣品分散系統(tǒng),、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成,。

優(yōu)點：顆粒圖像直觀清晰，操作簡便,、拍攝與分析速度快,、重復性和準確性好,，可干法也可濕法，可測量最大顆粒,，可進行圓形度,、長徑比等形貌分析。

缺 點：分析細顆粒（如-2 μm ）圖像不清晰,，誤差較大,，成本較高。