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納米粒度電位儀可檢測納米顆粒的哪些特性,？

時間：2022-1-19 閱讀：2384
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納米顆粒通常是指三維尺寸都處于納米尺度范圍（1nm-100nm）的粒子。
納米材料是指在三維空間中至少有一維處在納米尺度范圍（1nm-100nm）或由他們作為基本單元構(gòu)成的材料,。

由于納米材料是由相當(dāng)于分子尺寸甚至是原子尺寸的微小單元組成,，也正因為這樣,，納米材料具有了一些區(qū)別于相同化學(xué)元素形成的其他物質(zhì)材料特殊的物理或是化學(xué)特性例如：其力學(xué)特性、電學(xué)特性,、磁學(xué)特性,、熱學(xué)特性等，這些特性在當(dāng)前飛速發(fā)展的各個科技領(lǐng)域內(nèi)得到了應(yīng)用,。

BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開發(fā)的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測系統(tǒng),。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS,，可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位,、高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù),，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工,、生物,、制藥、食品,、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析,、質(zhì)量控制用途。

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