(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快，測試范圍大,，重復(fù)性和準確性好,，可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點：分辨力較低,。
(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便,、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準確性好,，可測量zui大顆粒,，可進行圓形度、長徑比等形貌分析,。缺點：不能分析細顆粒（如 <2μm）,，儀器成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低,、圖像清晰,、可進行圓形度、長徑比等形貌分析,。 缺點：操作復(fù)雜,，分析速度慢，無法分析細顆粒（如 <2μm）,。
(4) 電鏡法：優(yōu)點：能分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌,，圖像清晰，表面紋理可見,，分辨率高,，是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點：代表性差,、儀器價格昂貴,。
(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快,，可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高,，樣品用量少,。缺點：進樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑 <1μm 的樣品,。
(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便,，可測顆粒數(shù)，等效概念明確,，速度快,，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品,，維護時更換小孔管比較麻煩,。
(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行,，價格較低,，測試范圍較大。缺點：測試時間較長,，操作復(fù)雜,。
(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀,、設(shè)備造價低,，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點：不能用于超細樣品,；結(jié)果受人為因素和篩孔變形 影響較大,。
(9) 動態(tài)光散射法：優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到亞微米）、測試速度快,，重復(fù)性好,，操作簡便。缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大,。
(10) 超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,，無需稀釋樣品。 缺點：分辨率較低,，準確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大,。