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江蘇南京廣品高低溫試驗(yàn)箱開局平穩(wěn) 穩(wěn)中有進(jìn)
GP/T系列廣泛使用于航空航天,、電工電子,、儀器儀表,、材料設(shè)備、零部配件等試驗(yàn)樣品做高低溫例行試驗(yàn),、耐寒試驗(yàn),、高低溫交變?cè)囼?yàn)、低溫儲(chǔ)存,，以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能,、行為作出分析及
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
江蘇南京廣品高低溫試驗(yàn)箱開局平穩(wěn) 穩(wěn)中有進(jìn)
專心致力于溫度、濕度,、光照,、鹽霧腐蝕等試驗(yàn)環(huán)境的人工模擬，環(huán)測(cè)試驗(yàn)設(shè)備的制造者
上海廣品試驗(yàn)設(shè)備制造有限公司,，是國(guó)內(nèi)真正專業(yè)制造環(huán)境測(cè)試類試驗(yàn)設(shè)備的生產(chǎn)廠家,，真正做到全數(shù)控機(jī)床加工，外形結(jié)構(gòu)美觀大氣,，控制技術(shù)嚴(yán)格精密,，真正符合相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GP/T系列廣泛使用于航空航天、電工電子,、儀器儀表,、材料設(shè)備、零部配件等試驗(yàn)樣品做高低溫例行試驗(yàn),、耐寒試驗(yàn),、高低溫交變?cè)囼?yàn)、低溫儲(chǔ)存,，以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能,、行為作出分析及評(píng)價(jià)。
江蘇南京廣品高低溫試驗(yàn)箱開局平穩(wěn) 穩(wěn)中有進(jìn)
高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)
?新一代外觀設(shè)計(jì),，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng),、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),，技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定，運(yùn)行更可靠,，維護(hù)更方便,，備有高檔萬向滾輪,，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)
?超大觸摸屏搖表式操作，外觀更加簡(jiǎn)潔大方,，操作更加容易
?真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計(jì),，飛利浦高亮度照明，加熱無霧氣
?為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng),，記錄量大：SD卡儲(chǔ)存,，USB輸出，電腦連接打印,，大倉(cāng)有紙無紙記錄等選配
?可靠性高：主要配件選配*專業(yè)廠商,，保證提高整機(jī)可靠性
高低溫試驗(yàn)箱的型號(hào)規(guī)格：
型號(hào)：GP/OZ-100 工作室尺寸：400x450x550 外形尺寸：920x940x1680
型號(hào)：GP/OZ-150 工作室尺寸：500x500x600 外形尺寸：1030x1010x1720
型號(hào)：GP/OZ-225 工作室尺寸：500x600x750 外形尺寸：1100x1030x1880
型號(hào)：GP/OZ-250 工作室尺寸：550x630x780 外形尺寸：1140x1120x1950
型號(hào)：GP/OZ-300 工作室尺寸：600x600x800 外形尺寸：1190x1100x1950
型號(hào)：GP/OZ-500 工作室尺寸：700x800x900 外形尺寸：1250x1300x2030
型號(hào)：GP/OZ-800 工作室尺寸：800x1000x1000 外形尺寸：1290x1500x2140
型號(hào)：GP/OZ-010 工作室尺寸：1000x1000x1000外形尺寸：1490x1500x2140
高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
溫度范圍：00~150℃、-20~150℃,、-40~150℃,、-50~150℃、-60~150℃,、-70~150℃,、-100~150℃（按試驗(yàn)要求選定）
電 源：220v/4.5kw或者380v/5.5kw
溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
溫度均勻度：≤±2℃
降溫速率：0.7～1℃/min
升溫速率：2～3℃/min
快速溫度變化試驗(yàn)箱：快速降溫3~5℃/min，快速升溫3~5℃/min
噪音Noise（dB）：≤65 （以上均為空載）
使用環(huán)境溫度：+5~+35℃(降溫環(huán)境溫度+5~+28℃*)
安全：短路保護(hù),、超溫保護(hù),、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù),、操作人員安全保護(hù),、試件保護(hù)
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法T： :3256647186
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)