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HPS2561四探針電阻率測試儀

測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

    四探針電阻率測試儀，可測量片狀,、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量,。

HPS2561四探針電阻率測試儀

性能特點

v 高電阻精度：0.05%

v 高達30通道/秒

v 每個通道獨立設定上下限

v 具有低阻測試模式,，有效保護被測件

v 高10檔量程，手動和自動模式

v 可根據(jù)實際需要任意選擇總通道數(shù)提高測量效率

v 中英文可選操作界面

v 完備的通訊接口可以與PC進行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠程控制