 | 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 |
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楊正紅 （總經(jīng)理）
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詳細摘要：顆粒球形度分析儀是一臺的簡便的粉體和顆粒表征的自動粒徑粒形分析儀, 可以分析范圍在0.2m-3000m之間的粉體顆粒粒徑,；也可以分析范圍在0.8 - 300m的懸浮液和乳濁液,；還可以利用背光表面分析技
發(fā)布時間：2024/12/13所在地：北京北京市
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詳細摘要：碳黑粒子表面特征分析儀是一款評價粒子界面的裝置，是一款設計的新產(chǎn)品,，可以對懸浮液狀,，乳液中小至納米尺寸的顆粒的分散性的測試及對顆粒在濕式狀態(tài)的比表面積測量。
發(fā)布時間：2024/12/13所在地：北京北京市
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詳細摘要：高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術,，提供高分辨率,，和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。
發(fā)布時間：2024/12/13所在地：北京北京市
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詳細摘要：自動電位滴定儀，英文名：Automatic potential titrator,，基于電聲法的測試原理,，主要應用漿料分散體系中Zeta電位，等電點,，雙電層厚度,，測定，包括CMP漿料,，納米分散體系,、陶瓷
發(fā)布時間：2024/12/1所在地：北京北京市
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詳細摘要：Occhio Zephyr系列 粒度粒形分析儀度粒形分析儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統(tǒng)計學相結合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計信息,，從而
發(fā)布時間：2024/11/4所在地：北京北京市
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詳細摘要：歐奇奧 Zephyr 圖像法粒度分析儀粒度粒形分析儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統(tǒng)計學相結合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個別顆粒的直觀信息,，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計信息，從而幫助使
發(fā)布時間：2024/11/4所在地：北京北京市
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儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司主營產(chǎn)品：潤濕比表面分析儀-動態(tài)圖像法粒度分析儀-粒子分散穩(wěn)定性分析儀
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