FLIR熱像儀是利用紅外探測器和光學(xué)成像物鏡接受被測目標的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖,，這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應(yīng),。通俗地講紅外熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上面的不同顏色代表被測物體的不同溫度,。
FLIR熱像儀擁有鎖入功能,，能夠執(zhí)行檢測，如NDT,、應(yīng)力繪圖,，也可用于解析低至1mK的溫差。NDT是一種廣泛采用的無損評估方式,，可用于材料,、部件或系統(tǒng)屬性的評估。熱像儀可通過目標激發(fā)和觀測目標表面的熱力差檢測內(nèi)部缺陷,。它是一種有價值的工具,，可用于檢測復(fù)合材料中是否中空、層離和夾雜水分,。
FLIR熱像儀通過發(fā)射一個中波紅外激光信號到光纖芯中,，并通過一個寬波段的中紅外熱像儀記錄它的側(cè)面散射，科學(xué)家能夠探測到光纖的缺陷,，它是確保光纖將能夠支持高功率激光的關(guān)鍵的一步,。
裂紋和缺陷的存在改變了材料的熱性能。FLIR熱像儀對于用非接觸式的遙控的方式檢測各種類型的材料提供*的檢測方法,，如電子元件和藝術(shù)品,，非接觸式的分析方法更為適合,。熱量的正確解讀可以揭示材料中的結(jié)構(gòu)變化并且預(yù)防失敗的發(fā)生。
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