FLIR熱像儀是利用紅外探測器和光學(xué)成像物鏡接受被測目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元件上,，從而獲得紅外熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應(yīng),。通俗地講紅外熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像,。熱圖像的上面的不同顏色代表被測物體的不同溫度。
FLIR熱像儀擁有鎖入功能,，能夠執(zhí)行檢測,，如NDT、應(yīng)力繪圖,，也可用于解析低至1mK的溫差,。NDT是一種廣泛采用的無損評估方式，可用于材料,、部件或系統(tǒng)屬性的評估,。熱像儀可通過目標(biāo)激發(fā)和觀測目標(biāo)表面的熱力差檢測內(nèi)部缺陷。它是一種有價(jià)值的工具,，可用于檢測復(fù)合材料中是否中空,、層離和夾雜水分。
FLIR熱像儀通過發(fā)射一個(gè)中波紅外激光信號到光纖芯中,，并通過一個(gè)寬波段的中紅外熱像儀記錄它的側(cè)面散射,，科學(xué)家能夠探測到光纖的缺陷，它是確保光纖將能夠支持高功率激光的關(guān)鍵的一步,。
裂紋和缺陷的存在改變了材料的熱性能,。FLIR熱像儀對于用非接觸式的遙控的方式檢測各種類型的材料提供*的檢測方法,，如電子元件和藝術(shù)品，非接觸式的分析方法更為適合,。熱量的正確解讀可以揭示材料中的結(jié)構(gòu)變化并且預(yù)防失敗的發(fā)生,。
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