用磁性方法測(cè)定磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度、測(cè)定磁性和非磁性基體上鎳層厚度,、非磁性基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度,是應(yīng)用zui方法的一種無損測(cè)厚方法,可依據(jù)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)有三個(gè):

(1)GB/T4956《磁性金屬基體上非磁性覆蓋厚度測(cè)量磁性方法》國(guó)家標(biāo)推,等效采用ISO2l78標(biāo)推,。它規(guī)定的測(cè)厚方法,是利用夾在磁性測(cè)厚儀的磁體與磁性基體之間的非磁性覆蓋層厚度変化與磁引力變化或其磁路磁阻變化存在一定的函數(shù)關(guān)系而設(shè)計(jì)的。

(2)GB/T13744《磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測(cè)量»國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),。它規(guī)定的測(cè)厚方法，是利用夾在測(cè)厚儀磁體與非磁性基體之間的鎳層厚度的變化與因此而引起的磁引力或磁略的磁阻變化存在一定的函數(shù)關(guān)系而設(shè)計(jì)的,。

(3)GB/T4957《非磁性基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)定渦流方法》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),等效采用1SO02360標(biāo)準(zhǔn),。它規(guī)定的測(cè)厚方法,是利用渦流測(cè)厚儀的測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng).使測(cè)頭下面的導(dǎo)體產(chǎn)生電渦流;此渦流的振幅與相位和共于導(dǎo)體與測(cè)頭之間的非導(dǎo)電覆蓋涂層厚度存在一定的函數(shù)關(guān)系而設(shè)計(jì)的。當(dāng)覆蓋層與基體的導(dǎo)電率相差比較大的情況下,也可用來測(cè)量非程性導(dǎo)電基體上的非磁性導(dǎo)電覆還層厚度,。

利用基體和覆蓋層之間有無磁性和利用電渦流進(jìn)行測(cè)厚的方法,其測(cè)量精度受許多因素的影響,。在測(cè)量厚度時(shí),應(yīng)盡量避免覆蓋層的厚度、覆蓋層的電導(dǎo)率,、基體金屬的電和磁的性質(zhì)(如電導(dǎo)率,、磁性、是否存在剩磁等),、基體金屬的厚度,、測(cè)量面邊緣效應(yīng)、測(cè)量面的曲率.測(cè)量面的粗糙度,、測(cè)頭或測(cè)量面上有無異物附著,、工作那境周圍的磁場(chǎng)、測(cè)量時(shí)測(cè)頭的壓力,、測(cè)頭取向,、環(huán)境溫度等,對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確性的干擾。采用磁性方法和渦流方法測(cè)量鍍層厚度時(shí),測(cè)量誤差在±10%或1.5µm以內(nèi),。

近年來國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上不斷有功能先進(jìn)的磁性測(cè)厚儀和電渦流測(cè)厚儀推出,儀器的測(cè)zui精度可以提高到±3%,測(cè)量范圍擴(kuò)大至0~1000µm,不僅集磁性測(cè)厚和電渦流測(cè)厚于一身并用液晶顯示,還可以注接既可以用于電磁感應(yīng)測(cè)量又可以用于電渦流測(cè)量的雙功能探頭,甚至自動(dòng)識(shí)別基體材料以決定究竟使用那種感應(yīng)方法來測(cè)量,，測(cè)量的數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)5000個(gè)以上,并具有統(tǒng)計(jì)和計(jì)算功能、打印輸出所有讀數(shù)的功能,。當(dāng)測(cè)量較粗糙的表面時(shí),具有校準(zhǔn)功能,用以保證必要的精度,。