quanix 4500 測(cè)厚儀（Fe/NFe 雙用）

QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P,、QNix®4200P5）可 測(cè)量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。（Fe） QNix®4500（含 QNix®4500,、QNix®4500/5,、QNix®4500P、QNix®4500P5 可測(cè) 量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度,。（Fe/NFe 雙用） 標(biāo)準(zhǔn)：符合 ISO 2178,2360,2808 及 ASTM B 499,D7091 標(biāo)準(zhǔn) 

儀器使用：

1.開(kāi)機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),，儀器將 自動(dòng)開(kāi)機(jī),。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí),，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石,。每次測(cè)量后將儀器拿起,，離開(kāi)被測(cè)物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測(cè)量,。） 

“Fe”為磁性金屬基體模式,，“NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500）， “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅 QNix®4500）,，“取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）,。

在“開(kāi)”選項(xiàng)上停留 2 秒后，取平均值開(kāi)啟,，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為后三次讀 數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）,，測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“ X — ”符號(hào)時(shí)表示取平 均值開(kāi)啟,，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”）即可。 

測(cè)量：

（1）調(diào)零： 儀器在測(cè)量前,，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn),。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零，因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同,，會(huì)造成一定誤差,。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上,， 不要抬起,，按一下儀器上的紅鍵松開(kāi)，儀器依次顯示“零位參照,、放置探頭”,、 “零位參照，拿起探頭”或聽(tīng)到儀器響聲后,，拿起儀器,，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽(tīng)到響 聲后，液晶顯示 0,，調(diào)零完畢,。 注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后,，再測(cè)時(shí)不一定是的零位,， 這是正常現(xiàn)象,。 （2）測(cè)量 將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面,，儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面,、并壓實(shí)，每測(cè)量一次后將 儀器拿起,，離開(kāi)被測(cè)物 10 ㎝以上,，再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。 

注意事項(xiàng)和常見(jiàn)問(wèn)題：

1.測(cè)量應(yīng)為點(diǎn)接觸,，嚴(yán)禁將探頭置于被測(cè)物表面滑動(dòng),。 2.出現(xiàn) INFI 時(shí)，有可能是由于測(cè)量基體選擇錯(cuò)誤造成的,，請(qǐng)選擇測(cè)量基體 Fe,、NFe 或自動(dòng)識(shí)別 Fe/NFe，如未能解決,，可能是因?yàn)闇y(cè)量不同材料零位差距過(guò) 大造成,，選擇正確測(cè)量基體重新調(diào)零即可,。 3.因國(guó)家地區(qū)所用厚度單位不同，在中國(guó)銷售的 Qnix4500/4200 型使用的是 μ m,，因此屏蔽了英制單位 mil,，有時(shí)因操作不當(dāng)激活 mil 單位，此時(shí)用戶只需復(fù) 位即可,，復(fù)位過(guò)程為先把電池取下,，然后按住紅鍵裝上電池，復(fù)位完成后松開(kāi)紅 鍵即可