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詳細(xì)介紹
ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,。它適用于無損測量鍍層厚度,、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層,。
菲希爾X射線測厚儀XDL 比例接收器能實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)率
由于采用了FISCHER基本參數(shù)法,，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析,。
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計(jì)用途 | 能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF）,，用于測定鍍層和溶液分析。 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92） |
| 配有可選的WinFTM®BASIC軟件時(shí),，可同時(shí)測定24種元素 | |
| 設(shè)計(jì)理念 | 臺式儀器,，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由上往下 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 |
| 高壓 | 三檔：30KV，40KV,，50KV |
| 孔徑（準(zhǔn)直器） | φ0.3mm 可選：φ0.1mm,；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm |
| 測量點(diǎn)尺寸 | 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小 |
| 實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致 | |
| 小的測量點(diǎn)大小約φ0.2mm | |
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