Krautkramer MIC 10超聲波硬度計華東代理
GE的MIC 10可根據(jù)UCI方法（超聲波接觸阻抗 - 根據(jù)ASTM A1038和DIN 50159標(biāo)準(zhǔn)化）快速方便地進行現(xiàn)場硬度測試,。超聲波硬度計由手持式PDA和CUI測量探頭組成，兩者之間通過線纜連接,，通過硬度計前端金剛石壓頭與被測件接觸,，在均勻的接觸壓力下,，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變,，通過計量該頻率的變化達到測量硬度的目的。

Krautkramer MIC 10超聲波硬度計華東代理

 

GE的MIC 10可根據(jù)UCI方法（超聲波接觸阻抗 - 根據(jù)ASTM A1038和DIN 50159標(biāo)準(zhǔn)化）快速方便地進行現(xiàn)場硬度測試,。超聲波硬度計由手持式PDA和CUI測量探頭組成,，兩者之間通過線纜連接，通過硬度計前端金剛石壓頭與被測件接觸,，在均勻的接觸壓力下,，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計量該頻率的變化達到測量硬度的目的,。

IC 10系列MIC 10的規(guī)格使用經(jīng)過認證的Vickers測試塊。 當(dāng)使用脊?fàn)钪危ɡ鏜IC-222試驗臺）時,，5個讀數(shù)的平均值應(yīng)在其認證值的±3.6％之內(nèi),。 手寫測試應(yīng)至少對10個讀數(shù)進行平均，公差為±5％,。 作為比較的參考,，MIC 10系列可實現(xiàn)的±3.6％HV范圍轉(zhuǎn)換為羅克韋爾C標(biāo)度，如下表所列,。

此外,，為了與臺式Rockwell測試儀比較,，還列出了由ASTM E18定義的這些硬度水平的所需重復(fù)性。材料表面中的金剛石壓痕被電子地測量并且即時顯示,，而不使用通常與常規(guī)硬度測試儀相關(guān)的麻煩的光學(xué)評價,。

MIC10超聲波硬度計探頭和附件：
手動標(biāo)準(zhǔn)探頭MIC201A：10N/1Kgf負載，特別適用于小凹槽表面
手動標(biāo)準(zhǔn)探頭MIC205A：50N/5Kgf負載,，適用于大多數(shù)的應(yīng)用
手動標(biāo)準(zhǔn)探頭MIC2010A：100N/10Kgf負載,，適用于粗晶粒材料和粗糙表面
手動短探頭MIC201AS（10N/1Kgf負載）/MIC205AS（50N/5Kgf負載）
手動長探頭MIC201AL（10N/1Kgf負載）/MIC205AL（50N/5Kgf負載），配備有一個較長的振蕩棒（37mm）,。用于測量輪廓表面,，或工件結(jié)構(gòu)深的內(nèi)腔/凹槽中。如蝸桿齒輪和嚙合齒輪,。
電動探頭MIC2103A（3N/0.3Kgf）,、MIC211A（大約8N/0.8Kgf）和電動探頭MIC2101A（1N/0.1Kgf），配置有電動控制的維氏硬度計金剛石,，能獲得可靠的測量結(jié)果,。
檢驗合格的硬度參考塊

測量原理簡析: 傳統(tǒng)的維氏或布氏硬度測試需要在負載下由其壓痕產(chǎn)生的壓痕的面積的光學(xué)評價。 使用UCI（超聲波接觸阻抗）方法的測試,，測試壓痕的對角線（為了確定維氏硬度值而必須已知）的對角線不像通常那樣光學(xué)地評估,，但是凹痕區(qū)域通過測量 超聲頻率。 UCI方法適用于測試薄的氮化或滲碳的表面硬化層或涂層如鉻,。為了確保讀數(shù)不受襯底材料的影響,，必須考慮維氏硬度鉆石的穿透深度。通常,，層的厚度應(yīng)該是壓痕深度的十倍的zui小值,。但是，盡管如此,，試樣的總厚度應(yīng)該至少為2-3mm,，否則樣品必須連接到支撐板 通常，通過壓痕采樣的面積越大,，測試結(jié)果越*,。非均勻材料或由大粗晶粒組成的微觀結(jié)構(gòu)的變化被平均，提供*的結(jié)果,。較大壓痕的另一個優(yōu)點是對表面光潔度的要求較低,，從而減少了準(zhǔn)備表面的時間。相比之下,，回彈測試儀的各種沖擊裝置產(chǎn)生的壓痕遠大于由任何UCI探針產(chǎn)生的壓痕,。當(dāng)測試大型鑄件和鍛件時，建議使用回彈儀。測試由均質(zhì)材料或已經(jīng)接受表面硬化處理的那些組件構(gòu)成的小部件需要由UCI探針產(chǎn)生的較淺的凹槽,。

 MIC 10超聲波硬度計特征：

有效支持重復(fù)測試和文檔
易于硬度測試操作
單個或作為活動算術(shù)平均值
預(yù)編程校準(zhǔn)參數(shù)
儀器操作可根據(jù)具體測試要求定制
根據(jù)ASTM A 1038標(biāo)準(zhǔn)化
探頭負載從1N（HV0.1）到98N（HV10）
自動轉(zhuǎn)換成不同的硬度和抗拉強度
數(shù)據(jù)記錄器版本,，帶有用于測量數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置的內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器

 

 

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