小型多功能TIV光學(xué)硬度計(jì)
TIV（通過壓頭觀察）,，基于根據(jù)維氏的硬度測(cè)試，可以通過特殊光學(xué)和CCD相機(jī)“看穿"壓頭 - 維氏金剛石,。

?一旦達(dá)到試驗(yàn)載荷,，鉆石的印記圖像被記錄并自動(dòng)評(píng)估;通過顯微鏡進(jìn)行沒有迂回的對(duì)角線的測(cè)定

?測(cè)試與材料的獨(dú)立性：鋼和有色金屬，塑料,，硬質(zhì)合金,，玻璃和陶瓷的硬度測(cè)量，無校準(zhǔn)

?測(cè)試與質(zhì)量和幾何形狀的獨(dú)立性：甚至在非常薄的測(cè)試對(duì)象（例如線圈,，鈑金和金屬箔）上測(cè)

小型多功能TIV光學(xué)硬度計(jì)

 

TIV（通過壓頭觀察）,，基于根據(jù)維氏的硬度測(cè)試，可以通過特殊光學(xué)和CCD相機(jī)“看穿”壓頭 - 維氏金剛石,。

•一旦達(dá)到試驗(yàn)載荷,，鉆石的印記圖像被記錄并自動(dòng)評(píng)估;通過顯微鏡進(jìn)行沒有迂回的對(duì)角線的測(cè)定

•測(cè)試與材料的獨(dú)立性：鋼和有色金屬，塑料,，硬質(zhì)合金,，玻璃和陶瓷的硬度測(cè)量，無校準(zhǔn)

•測(cè)試與質(zhì)量和幾何形狀的獨(dú)立性：甚至在非常薄的測(cè)試對(duì)象（例如線圈,，鈑金和金屬箔）上測(cè)量硬度

•通過觀察彩色顯示屏上的“增長(zhǎng)”縮進(jìn),，直接檢查和評(píng)估測(cè)量的質(zhì)量

•便攜式儀器帶有大型彩色屏幕;通過鍵盤或觸摸屏操作

•將測(cè)試系列圖形顯示為曲線，直方圖或統(tǒng)計(jì)表,。

移動(dòng)硬度測(cè)試特殊視圖方法創(chuàng)新的Krautkramer技術(shù)確保了移動(dòng)硬度測(cè)試的另一個(gè)進(jìn)步：TIV方法（通過Indenter Viewing）,，基于根據(jù)維氏硬度測(cè)試，使得可以“看穿”維氏硬幣通過特殊光學(xué),。硬度在負(fù)載下測(cè)量;一旦達(dá)到測(cè)試負(fù)載,，測(cè)試壓痕的圖像被直接，自動(dòng)和快速地轉(zhuǎn)移和評(píng)估,。

儀器優(yōu)點(diǎn)

- 您的受益TIV硬度計(jì)可以在不考慮材料的情況下使用

- 無需任何額外的校準(zhǔn),。您可以使用相同的儀器來測(cè)量各種材料的硬度，沒有任何參考樣品,，也沒有任何費(fèi)力的設(shè)置：從鋼鐵和有色金屬通過塑料,，碳化物金屬，玻璃和陶瓷到不同的涂層,。試驗(yàn)載荷的靜態(tài)施加降低了試驗(yàn)物體的振動(dòng),，并因此降低了試驗(yàn)物質(zhì)的彈性性質(zhì)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響。

另一個(gè)好處是：您可以使用TIV測(cè)量非常薄的測(cè)試對(duì)象,，例如線圈或鈑金和金屬箔,，固定或移動(dòng)硬度測(cè)試儀先前失敗，沒有任何問題,。因此,，硬度測(cè)試不僅獨(dú)立于材料，而且獨(dú)立于測(cè)試對(duì)象的質(zhì)量和幾何形狀,。這意味著TIV開辟了新的應(yīng)用領(lǐng)域,，用于移動(dòng)硬度測(cè)試。不用說,，我們已經(jīng)證明的硬度測(cè)試儀已經(jīng)知道的所有優(yōu)點(diǎn)保持或改進(jìn),，例如。方向獨(dú)立性,，用戶友好性,，數(shù)據(jù)管理,。加上更多。

TIV（通過壓頭觀察）方法基于根據(jù)維氏的硬度測(cè)試; 使得可以通過特殊光學(xué)“透視”維氏金剛石,。 硬度在負(fù)載下測(cè)量; 一旦達(dá)到測(cè)試負(fù)載,，壓痕的圖像被直接，自動(dòng)和快速地傳送和評(píng)估,。

特殊儀器

TIV硬度計(jì)的彩色液晶顯示屏不僅顯示鉆石的壓痕圖像,，還顯示所選硬度刻度的直接顯示讀數(shù)。顯示器上顯示的圖形用戶界面適用于已知的Windows標(biāo)準(zhǔn),。這樣,，無論您想要配置，測(cè)量,，評(píng)估還是存儲(chǔ),，您都將很快掌握儀器的操作方式。

特殊功能

您不需要鼠標(biāo)選擇功能,，因?yàn)閮x器具有使用筆的觸摸屏功能,。然而，作為替代,，常規(guī)按鈕也可用于大多數(shù)功能,。

簡(jiǎn)單的操作

三個(gè)主菜單使您更方便地訪問zui重要的儀器功能，并且您只需幾次“屏幕點(diǎn)擊”即可到達(dá)目的地,。你想看到你的測(cè)試系列作為曲線,，直方圖或統(tǒng)計(jì)？點(diǎn)擊是所有需要,。通過選擇另一個(gè)硬度標(biāo)度,，轉(zhuǎn)換對(duì)您來說很容易。在菜單“數(shù)據(jù)”中,，您可以以簡(jiǎn)單直接的方式存儲(chǔ)結(jié)果和縮進(jìn)的圖像,。

移動(dòng)實(shí)踐

您可以使用電源連接和標(biāo)準(zhǔn)單元，或通過我們的可充電電池組（可在儀器內(nèi)部充電）來操作TIV,。在一段時(shí)間后,，顯示器關(guān)閉，并且可以通過簡(jiǎn)單地觸摸觸摸屏來重新激活,。在任何可變的時(shí)間段之后觸發(fā)自動(dòng)關(guān)閉功能 - 所有數(shù)據(jù)和設(shè)置當(dāng)然被保持,。

產(chǎn)品特點(diǎn)

壓頭觀察（TIV）方法 - 可以在不進(jìn)行額外校準(zhǔn)的情況下使用材料
直接，自動(dòng)和快速的測(cè)量和評(píng)估
觸摸屏和LCD技術(shù)
操作簡(jiǎn)單 - 只需幾個(gè)屏幕點(diǎn)擊三個(gè)屏幕的信息
移動(dòng)性 - 可充電電池和自動(dòng)關(guān)機(jī)

硬度根據(jù)維氏試驗(yàn)負(fù)荷進(jìn)行試驗(yàn)
通過壓頭通過特殊光學(xué)和CCD相機(jī)觀察
通過觀察彩色顯示屏上不斷增長(zhǎng)的縮進(jìn),，直接檢查和評(píng)估測(cè)量的質(zhì)量
全自動(dòng)評(píng)估維氏壓痕和確定對(duì)角線沒有迂回（通過顯微鏡）
獨(dú)立于測(cè)試方向和測(cè)試對(duì)象的材料
測(cè)量范圍從大約30HV到大于1000HV（取決于探頭）
明確排列的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,，方便和結(jié)構(gòu)化的保存測(cè)試結(jié)果
可以調(diào)用和編輯測(cè)試系列

很多方式。更有信心,。更好的決策,。GE檢測(cè)科技與貴公司的合作伙伴,，以滿足您無損檢測(cè)的需要。我們提供全套的無損檢測(cè)（NDT）解決方案,，包括放射成像（GE測(cè)量與控制部分） ,，計(jì)算機(jī)斷層掃描，遠(yuǎn)程可視化檢測(cè),，超聲波，電磁,，硬度測(cè)試和計(jì)量,。與我們Rhythm®軟件平臺(tái)相結(jié)合，GE是你的zui終生產(chǎn)率解決方案提供商,，提供可以無縫地與同事和客戶共享準(zhǔn)確可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)在世界各地,，在數(shù)字化的快速進(jìn)步，軟件開發(fā)和成像能力繼續(xù)提供非破壞性測(cè)試和檢驗(yàn)領(lǐng)域內(nèi)的改進(jìn),。往往是從醫(yī)學(xué)界得出,，2D和3D影像可以解決或趨勢(shì)中的復(fù)雜問題部件壽命延長(zhǎng)，健身服務(wù),，設(shè)計(jì)優(yōu)化,，質(zhì)量控制或根源故障分析的領(lǐng)域。高分辨率成像已經(jīng)成為實(shí)用,，性價(jià)比高,，可以節(jié)省關(guān)鍵的時(shí)候，適當(dāng)?shù)剡\(yùn)用到現(xiàn)實(shí)世界的應(yīng)用,。GE檢測(cè)科技在使用電磁,，γ-和X射線，超聲波和可見光譜的能量提供良好的無損成像的世界*,，我們有巨大的深度和知識(shí)可以應(yīng)用到你的需求的廣度,。

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