白光干涉儀talysurf cci mp

結(jié)構(gòu)緊湊的高新能白光干涉儀

單一測(cè)量模式，新一代白光干涉儀

良好的光學(xué)干涉測(cè)量技術(shù)  •     非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制,，2.2毫米掃描范圍  •     改進(jìn)后的拼接功能,，使Z軸量程可達(dá)100毫米  •     1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場(chǎng)  •     增強(qiáng)了角度靈敏度，能夠得到更好的測(cè)量數(shù)據(jù) 從實(shí)質(zhì)上消除測(cè)量的不確定性  •     RMS重復(fù)性小于0.2埃,，臺(tái)階高度重復(fù)性小于0.1%  •     整個(gè)測(cè)量量程有著0.1埃分辨率  •     FEA優(yōu)化機(jī)械設(shè)計(jì),，具備出色的R&R能力  •     采用ISO標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)，確保結(jié)果的可信度

追求長(zhǎng)期成本效益的堅(jiān)固耐用設(shè)計(jì)  •     非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費(fèi)用  •     自動(dòng)表面檢測(cè)可防止撞壞鏡頭  •     內(nèi)置自我診斷工具可快速,、輕松地排除故障  •     操作的簡(jiǎn)便性可減少使用者出錯(cuò)可能 64位控制和分析軟件  •     包括中文,、日文在內(nèi)的多語種支持  •     兼容大多數(shù)計(jì)算機(jī)平臺(tái)，有利于開展合作性研究項(xiàng)目  •     提供多種新工具,，包括3D表面隨時(shí)間演變過程中進(jìn)行4D分析  •     根據(jù)多批次測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)生成報(bào)告

高性能的CCI MP是科研和制造*不可少的測(cè)量手段,。

大量程、高分辨率,、高準(zhǔn)確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件,、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭,，可對(duì)非常粗糙到非常光滑的所有表面進(jìn)行細(xì)致全面的分析。功能豐富–可隨時(shí)用于生產(chǎn)運(yùn)營(yíng)或研究項(xiàng)目時(shí)刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展,，CCI       MP能夠滿足包括太陽能,、光學(xué)和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的苛刻的測(cè)量要求。高級(jí)數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測(cè)量范圍,。

使用的簡(jiǎn)便性可減少操作員的培訓(xùn)成本
即便不常使用,，也無需對(duì)操作員重新進(jìn)行培訓(xùn)和指導(dǎo)。CCI    MP的設(shè)計(jì)便于科學(xué)家,、學(xué)生,、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動(dòng)量程和自動(dòng)條紋尋找等,，可以簡(jiǎn)化樣品的調(diào)整過程,。為用戶節(jié)省時(shí)間、減少錯(cuò)誤并快速得出所需結(jié)果,。

完整的平臺(tái)簡(jiǎn)化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到很大提高,。也不需要測(cè)量模式間進(jìn)行復(fù)雜的切換，以及測(cè)量過程中校準(zhǔn)鏡頭,，就可以測(cè)量多種多樣零件和表面,。標(biāo)準(zhǔn)化的模式、程序和報(bào)告功能,，使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng),。

無限的應(yīng)用可能性

許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器*無法處理的測(cè)量問題,。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡(jiǎn)便的優(yōu)勢(shì),成為在眾多應(yīng)用場(chǎng)合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具,。